138.049 Elektronenmikroskopie
Diese Lehrveranstaltung ist in allen zugeordneten Curricula Teil der STEOP.
Diese Lehrveranstaltung ist in mindestens einem zugeordneten Curriculum Teil der STEOP.

2019W, PR, 4.0h, 5.0EC, wird geblockt abgehalten

Merkmale

  • Semesterwochenstunden: 4.0
  • ECTS: 5.0
  • Typ: PR Projekt

Lernergebnisse

Nach positiver Absolvierung der Lehrveranstaltung sind Studierende in der Lage die in der Lehrveranstaltung angebotenen Lehrinhalte zu erfassen und selbstständig zu interpretieren sowie sämtliche Lehrinhalte auch aktiv weiterzugeben.

Inhalt der Lehrveranstaltung

Arbeitsweise des Transmissionselektronenmikroskopes (TEM)
Praktische Arbeit am Mikroskop
Setup und Alignment des analytischen TEMs
- Alignment der strahlformenden Linsen
- Alignment der bildformenden Linsen
- Korrektur der Linsenfehler Anwendung der grundlegenden TEM-Techniken
- Hellfeldabbildung (MAG, SAMAG)
- Dunkelfeldabbildung
- Elektronenbeugung
- Verwendung des Kamerasystem (CCD/Plattenkamera)

Analytik am TEM
- Energieverlustspektrometrie (EELS)
- Energiedispersive Röntgenmikroanalyse (EDS)
- Image Filter (GIF)
- Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM)
- Bright Field, Dark Field und High Angle Annular Dark Field (DF, BF, HAADF)

Methoden

Interaktiver Kurs

Prüfungsmodus

Schriftlich und Mündlich

Weitere Informationen

Achtung: Anmeldepflicht, begrenzte Teilnehmerzahl!
Bitte melden Sie sich rechtzeitig ab, falls Sie Ihren Teilnahmewunsch stornieren müssen, damit KollegInnen auf der Warteliste nachrücken können.

Geplante Termine WS 2019/20:

Es sind wieder drei Gruppen geplant, mit jeweils maximal 5 TeilnehmerInnen.
Block 1 ist ausschließlich reserviert für englischsprachige Studierende.
Bitte rechtzeitig anmelden!

Die Arbeiten am TEM finden im TEM Labor im Freihaus (8.Stock, gelber Turm) statt.
Dauer: üblicherweise 09:00 bis 13:00

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Theorieblock für alle Gruppen (Lecture for all groups together)
Fr 4.10.2019 - 12-14 Uhr FH SEM 7 OG roter Turm (DC07A15)
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Gruppe 2:
Mo, 04. Nov 2019
Di, 05. Nov 2019
Mi, 06. Nov 2019
Do, 07. Nov 2019
Mo, 11. Nov 2019
Di, 12. Nov 2019
Mi, 13. Nov 2019
Fr, 14. Nov 2019

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Gruppe 3:
Mo, 18. Nov 2019
Di, 19. Nov 2019
Mi, 20. Nov 2019
Do, 21. Nov 2019
Mo, 25. Nov 2019
Di, 26. Nov 2019
Mi, 27. Nov 2019
Do, 28. Nov 2019
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Vortragende

Institut

LVA Termine

TagZeitDatumOrtBeschreibung
Fr.12:00 - 15:0004.10.2019Sem.R. DC rot 07 Seminarblock für alle Gruppen PR Elektronenmikroskopie
Mo.12:00 - 13:0007.10.2019FH Hörsaal 6 Vorbesprechung
LVA wird geblockt abgehalten

Leistungsnachweis

Zeugnis

LVA-Anmeldung

Von Bis Abmeldung bis
21.08.2019 00:00 10.10.2019 12:00 08.10.2019 12:00

Anmeldemodalitäten:

Bitte die Anmeldung ausschließlich mit Hilfe des Links "zur Gruppen-Anmeldung" durchführen. Die erste Gruppe ist bevorzugt für nicht-deutsch sprechende KollegInnen vorgesehen. Bitte ignorieren Sie den Link "LVA-Anmeldung".

 

 

Gruppen-Anmeldung

GruppeAnmeldung VonBis
Gruppe 1 (english)21.08.2019 00:0010.10.2019 12:00
Gruppe 2 (german)21.08.2019 00:0010.10.2019 12:00
Gruppe 3 (german)21.08.2019 00:0010.10.2019 12:00

Curricula

StudienkennzahlSemesterAnm.Bed.Info
066 434 Materialwissenschaften

Literatur

Ein Skriptum zur Lehrveranstaltung ist erhältlich.

Transmission electron microscopy - Williams, David B. and Carter, C.Barry (empfehlenswert) (1996,2009)

Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation - Reimer, Ludwig und Kohl, Helmut (2008) (empfehlenswert)

Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie - Alexander, Helmut (1997)
Physical principles of electron microscopy - Egerton, Ray F. (2005)
Einführung in die Elektronenmikroskopie - Heimendahl, Manfred von (1984)
Electron microscopy of materials - Heimendahl, Manfred von (1980)
Electron microscopy of thin crystals - Hirsch, P. B. (1977)
High-resolution electron microscopy - Spence, John C. H. (2008)
Transmission electron microscopy of materials - Thomas, Gareth (1990) Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Präparationsmethoden - Reimer, Ludwig (1984)
Fundamentals of inelastic electron scattering - Schattschneider, Peter (1986)

Begleitende Lehrveranstaltungen

Vertiefende Lehrveranstaltungen

Weitere Informationen

  • Anwesenheitspflicht!

Sprache

Deutsch