133.031 Hochauflösende Elektronenmikroskopie von Festkörpern
Diese Lehrveranstaltung ist in allen zugeordneten Curricula Teil der STEOP.
Diese Lehrveranstaltung ist in mindestens einem zugeordneten Curriculum Teil der STEOP.

2020W, VO, 2.0h, 3.0EC

Merkmale

  • Semesterwochenstunden: 2.0
  • ECTS: 3.0
  • Typ: VO Vorlesung
  • Format der Abhaltung: Hybrid

Lernergebnisse

Nach positiver Absolvierung der Lehrveranstaltung sind Studierende in der Lage die in der Lehrveranstaltung angebotenen Lehrinhalte zu erfassen und selbstständig zu interpretieren sowie sämtliche Lehrinhalte auch aktiv weiterzugeben.

Inhalt der Lehrveranstaltung

Experimentelle Voraussetzungen (Probenpräparation, Gerätetechnik): Wellenoptik der Bildfehler/ Kontrastübertragungsfunktion. Dynamische Beugungstheorie - Wellenausbreitung - Elektronenoptik: Computersimulation des Bildkontrastes: Analyse von Kristallgitterdefekten von Halbleitern, Keramik (Versetzungen, Grenzflächen, Korngrenzen, Phasengrenzen): Diskussion der Vorteile und Nachteile von HREM.

Methoden

Frontalvorlesung

Prüfungsmodus

Schriftlich und Mündlich

Weitere Informationen

Vorbesprechung: Mo, 5. Oktober 2020, 12:00-13:00 Uhr, via GoToMeeting:

https://global.gotomeeting.com/join/391147653

tel:+43720815427
Access Code: 391-147-653

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eventuell in Blockform, nach Vereinbarung

Vortragende

Institut

Leistungsnachweis

Zeugnis

LVA-Anmeldung

Anmeldemodalitäten:

Seminarraum, 8.Stock Ort: nach der Vorbesprechung, bei Beginn der Vorlesung

Curricula

Literatur

Ein Skriptum zur Lehrveranstaltung ist erhältlich. wird bei Beginn der Vorlesung ausgegeben Preis: 10.0 John Cowley: Diffraction Physics, Elsevier John Spence: Experimental High-Resolution Electron Microscopy, Oxford Univ. Press.

Vorkenntnisse

keine speziellen, sinnvoll sind Grundlagen der Elektronenmikroskopie und der Festkörperphysik

Sprache

Deutsch