133.027 Projektarbeit Elektronenmikroskopie von Halbleitern
Diese Lehrveranstaltung ist in allen zugeordneten Curricula Teil der STEOP.
Diese Lehrveranstaltung ist in mindestens einem zugeordneten Curriculum Teil der STEOP.

2019W, PA, 8.0h, 12.0EC, wird geblockt abgehalten

Merkmale

  • Semesterwochenstunden: 8.0
  • ECTS: 12.0
  • Typ: PA Projektarbeit

Lernergebnisse

Nach positiver Absolvierung der Lehrveranstaltung sind Studierende in der Lage die in der Lehrveranstaltung angebotenen Lehrinhalte zu erfassen und selbstständig zu interpretieren sowie sämtliche Lehrinhalte auch aktiv weiterzugeben.

Inhalt der Lehrveranstaltung

Projektarbeit mit dem Thema Elektronenmikroskopie von Halbleitern. Präparation von Proben für TEM, Einführung in die Transmissions-elektronenmikroskopie am Gerät, Auswertung von Aufnahmen, Indizierung von Beugungsbildern, Kontrastanalysen.

Methoden

Interaktiver Kurs

Prüfungsmodus

Prüfungsimmanent

Weitere Informationen

keine besonderen Vorkenntnisse nötig; VO Hochauflösende Elektronen-mikroskopie von Festkörpern, VO Versetzungen in Kristallen, VO Festkörperphysik (I,II) sinnvoll

Vortragende

Institut

Leistungsnachweis

Protokoll

LVA-Anmeldung

Anmeldemodalitäten:

Sprechzimmer, 8. Stock Turm B Ort: nach Vereinbarung bei P.P. (0676-7081972)

Curricula

StudienkennzahlSemesterAnm.Bed.Info
810 Technische Physik

Literatur

Ein Skriptum zur Lehrveranstaltung ist erhältlich. wird zur Verfügung gestellt Reimer: Elektronenmikroskopie: Hirsch et al.: Electron Microscopy of Thin Crystals: Edington: Practical Electron-Microscopy in Material Science.

Vorkenntnisse

Grundlagen der Festkörperphysik

Weitere Informationen

  • Anwesenheitspflicht!

Sprache

Deutsch