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TU-Wien
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Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
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Institut für Mikroelektronik
E360
Institut für Mikroelektronik
Leitung
Univ.Prof. Dipl.-Ing. Dr.techn. Tibor Grasser
Telefon
E-Mail
Adresse
Webseite
http://www.iue.tuwien.ac.at/
Zum Adressbucheintrag
Übersicht
Fachgebiete
Keywords
F&E Aktivitäten
Leitbild (Deutsch)
Das Institut für Mikroelektronik beschäftigt sich mit der Modellierung, Simulation und Analyse von Halbleiterbauelementen und deren Herstellungsprozessen. Dafür wurde ein umfangreiches Wissen über numerische Lösungsverfahren verschiedener partieller Differentialgleichungen (Poissongleichung, Kontinuitätsgleichung, Diffusionsgleichung, u.a.m.) aufgebaut.
Dieses Wissen wurde in der Realisierung verschiedener Simulationsprogramme umgesetzt. Diese Programme werden in Forschungslaboratorien in aller Welt verwendet. Ein Schwerpunkt der Institutstätigkeit ist die Weiterentwicklung dieser Softwareprodukte. Heute treten Probleme wie das Verbinden von Simulatoren verschiedener Hersteller in den Vordergrund, sowie Simulation nicht planarer Strukturen, Mehrschicht- und Heterostrukturen, aber auch Modelle, die wegen der ständig wachsenden Rechnerkapazität heute in Angriff genommen werden können.
Das Institut verfügt über eine eigene leistungsfähige Rechnerausstattung und über gute Kontakte zu Forschungslaboratorien in- und ausländischer Halbleiterhersteller.
Leitbild (Englisch)
The Institute for Microelectronics researches in modelling, simulation and analysis of semiconductor devices and process technology. For this purpose, substantial knowledge on numerical methods for solving partial differential equations (Poisson equation, continuity equation, diffusion equation, etc.) has been established.
Based on this knowledge software tools have been and are further developed which are worldwide used by semiconductor research labs.
The institute disposes of a powerful computer infrastructure and is involved in several national, european and international research projects.
Webseite
http://www.iue.tuwien.ac.at/
Forschungsbereiche
Name
Forschungsbereich Mikroelektronik
Services des Instituts
Personen
Titel
Nachname
Vorname
Ao.Univ.-Prof.i.R. Dipl.-Ing. Dr.techn.
Langer
Erasmus
M.A. MSc
Pop
Diana Vasilica
Privatdoz. Dr.techn. MSc
Pourfath
Mahdi
Univ.Doz. Dipl.-Ing. Dr.techn.
Puchner
Helmut
Privatdoz. Dipl.-Phys. Dr.
Quay
Rüdiger
Univ.Lektor Dipl.-Ing. Dr.techn.
Rupp
Karl
Em.O.Univ.Prof. Dipl.-Ing. Dr.techn. Dr.h.c.
Selberherr
Siegfried
Univ.Lektor Dipl.-Ing. Dr.techn.
Sima
Harald
Univ.Lektor Dipl.-Ing. Dr.techn.
Stadler
Michael
F
P
1
N
E
Fachgebiete nach Statistik Austria
Code
Fachgebiet(Deutsch)
Fachgebiet(Englisch)
1229
Halbleiterphysik
Semiconductor physics
2521
Mikroelektronik
Microelectronics
2517
Halbleitertechnologie
Semiconductor technology
2524
Physikalische Elektronik
Physical electronics
2939
Computerunterstützte Simulation
Computer-aided simulation
Schlagwörter
Schlagwort (Deutsch)
Schlagwort (Englisch)
TCAD
TCAD
Technologie-CAD
Technology CAD
Modellierung und Simulation von Halbleiter-Bauelementen und -Prozessen
Modeling and simulation of semiconductor devices and processes
Softwaretechnologie
Software technology
Entwurf von Halbleiterbauelementen
Design of semiconductor devices
F&E Aktivitäten
Beschreibung
Von
Bis
vom Institut organisierte wissenschaftliche Tagung/Konferenz/Symposium
Anzahl der Teilnehmer
Reichweite
IWCE 2006 - International Workshop on Computational Electronics:Die Tagung umfasst alle Aspekte der hochentwickelten Simulation des elektronischen Transports sowie der optoelektronischen Prozesse in Halbleitern und in Halbleiterbauelementen basierend sowohl auf anorganischem als auch organischem Material. Das wissenschaftliche Programm besteht aus eingeladenen und eingereichten Vorträgen sowie aus Posterpräsentationen.
05/2006
05/2006
51
SEMIC 2006 - Interdisziplinäre Tagung (Elektrotechnik, Mathematik, Physik, Chemie) betreffend den Fortschritt in der Modellierung von Halbleiterbauelementen und -schaltungen.
02/2006
02/2006
51
SISPAD 2007 - Internationale Konferenz über Simulation von Halbleiterprozessen und -bauelementen: Bauelementesimulation inklusive Trägertransport in Nanostrukturen; Modelle für VLSI-Bauelemente; Prozess-Simulation (makroskopische und atomistische Näherungen); Geräte-, Topograhie- und Lithographie-Simulation; Verdrahtungsstrukturen und Algorithmen zur Berücksichtigung von Rauschen und anderen parasitären Effekte; Kompaktmodelle für Schaltungssimulation; Integration von Bauelement- und Schaltungssimulation; Benutzeroberflächen und Visualisierung; Hochleistungsrechnen, numerische Methoden und Algorithmen; Gittergenerierung und -adaptierung; Simulation von Mikrosensoren und optoelektronischen Bauelementen; Untersuchung, Kalibrierung und Vergleich verschiedener Simulatoren
09/2007
09/2007
51
Workshop über Elektromigration und Zuverlässigkeit: Basierend auf experimenteller und simulationsmäßiger Erfahrung führender Experten wird im Rahmen der Tagung das Phänomen der Elektromigration sowie dessen kritischer Einfluss auf Entwurf und Integration zukünftiger Verdrahtungsstrukturen beleuchtet.
09/2007
09/2007
49
Workshop über Organische Elektronik: In dieser Tagung wird der aktuelle Stand sowie kürzliche Entwicklungen auf den Gebieten organische Elektronik und optoelektronische Bauelemente, basierend auf experimentellen, theoretischen und simulationsmäßigen Arbeiten, bearbeitet. Besondere Bedeutung kommt dabei der Vermittlung der grundlegenden elektronischen Eigenschaften organischer Halbleitermaterialien sowie der dafür geeigneten Simulationstechniken zu.
09/2007
09/2007
49