AFM-SECM Untersuchungen mit Bor dotierten Diamantelektroden

01.04.2009 - 31.12.2011
Auftragsforschungsprojekt
In diesem Projekt sollen bordotierte Diamantschichten als mögliches Elektrodenmaterial für ein kombiniertes AFM-SECM Analyseverfahren untersucht werden. Erste Prototypen sollten ausgehend von kommerziell erhältlichen diamantbeschichteten AFM Spitzen hergestellt werden. Diese werden durch eine Oxinitridschicht isoliert und in weiterer Folge durch fokussierte Ionenstrahlverfahren Ultramicro- und Nanoelektroden freigelegt. In weiterer Folge sollen diese Spitzen auf deren möglichen Einsatz für in situ Leitfähigkeitsmessungen getestet werden. Diese soll es ermöglichen gleichzeitig die morphologischen und elektrochemischen Veränderungen von Oberflächen unter Reaktionsbedingungen untersuchen zu können.

Personen

Projektleiter_in

Subprojektleiter_in

Projektmitarbeiter_innen

Institut

Auftrag/Kooperation

  • Planai Hochwurzenbahnen Gmbh

Forschungsschwerpunkte

  • Non-metallic Materials: 10%
  • Biological and Bioactive Materials: 5%
  • Special and Engineering Materials: 10%
  • Structure-Property Relationsship: 5%
  • Nano-electronics: 10%
  • Sensor Systems: 35%
  • Sustainable Production and Technologies: 5%
  • Surfaces and Interfaces: 10%
  • Materials Characterization: 10%

Schlagwörter

DeutschEnglisch
Atomkraftmikroskopieatomic force microscopie
Elektrochemische Mikroskopiescanning electrochemical microscopy

Externe Partner_innen

  • Department of Chemistry and Biochemistry
  • Institut for Chemistry and Technology of Materials
  • Department of Chemistry

Publikationen