3D NanoChemiscope¿Kombiniertes SIMS-SFM Instrument für die dreidimensionale chemische Analytik von Nanostrukturen

01.09.2008 - 31.08.2012

Forschungsförderungsprojekt

Das Ziel dieses Projektes ist die Entwicklung einer inovativen und neuartiger Kombination einer neuen TOF-SIMS mit substantiell verbesserten lateralen Auflösung und Empfindlichkeit und einen neuen hoch auflösender SFM. diese beiden Techniken liefern complementäre Information der Oberflächen Chemie und Topologie im Nanometer-Bereich. In Kombination mit einem durch das SFM gemessenen schichtweisen Abtrag der Probe mittels niederenergetischen Zerstäuben ist dieses kombinierte UHV-Gerät einzigartig für die 3-dimensionalen Charakterisierung von nanostrukturen. Dieses gilt sowohl für anorganische als auch organische Strukturen bis zu einer lateralen Ausdehnung im 10 nm-Bereich und einer Tiefe von einem nm. Gemeinsam mit einer neuen Software für die Verarbeitung und Vizualisierung von 3-dimensionalen Verteilungen aller chemischen Signale führt das einen neuen "3D Nanochemiscope"

Personen

Projektleiter_in

Ao.Univ.Prof. Dipl.-Ing. Dr.techn. Herbert Hutter (E164)

Projektmitarbeiter_innen

Dipl.-Ing. Dr.techn. Georg Josef Ziegler (E164)

Institut

E164 - Institut für Chemische Technologien und Analytik

Förderungsmittel

European Commission (EU) RP7 I.4 ZUSAMMENARBEIT Nanowissenschaften und -technologien, Werkstoffe und Produktion 7.Rahmenprogramm für Forschung Europäische Kommission - Rahmenprogamme Europäische Kommission Ausschreibungskennung FP7-NMP-2007-SME-1 Antragsnummer 200613

Forschungsschwerpunkte

Materials and Matter

Schlagwörter

Deutsch	Englisch
TOF-SIMS	TOF-SIMS
Nano-Analytik	Nano-Analytik
SFM	SFM