Für MUSEs Datenendgeräte sollen Messungen für zukünftige höhergradige EMV Schutzklassen entsprechend interner Entwicklungsvorgaben vorgenommen werden, sowohl in Bezug auf Abstrahlung, als auch bezüglich Einstrahhung. Dabei steht die grundsätzliche Messmethodik im Vordergrund, um die erforderliche EMV- Schwachstellen der Geräte zu identifizieren, Verbesserung vorzuschlagen und anzuwenden, und exemplarische Vergleichsmessungen durchzuführen. Das Ziel ist explizit nicht, exakt die in einschlägigen Normen und Standards (ISO, Automotive Normen, etc.) vorgegeben Messabläufe durchzuführen, sondern dem Entwicklerteam bei MUSE zukünftig Entwurfsstrategien und Messmöglichkeiten bereit zu stellen, um bereits in der Entwurfsphase eine hohe Wahrscheinlichkeit eines möglichst abstahlungsarmen, bzw. gegen EM- Interferenz möglichst unempfindlichen Entwicklungsmusters zu erzielen.