Prof. Suchorskis Arbeitsgruppe nutzt Photoelektronenmikroskopie (PEEM), Feldemissionsmikroskopie (FEM) und Feldionenmikroskopie (FIM) um katalytische Oberflächenreaktionen in Echtzeit im mesoskopischen Maßstab mittels PEEM und im nanoskopischen Maßstab mittels FIM und FEM zu visualisieren und zu untersuchen.Als Proben dienen dabei nanostrukturierte und nanometergroße Materialien. Der Schwerpunkt wird auf das Wachstum von diskontinuierlichen Oxidschichten auf metallischen Einkristallsubstraten (Pt, Pd, Rh) und auf nanometergroße Platinmetallspitzen (Pt, Rh) gelegt.Durch spektroskopische Messungen (XPS) und Oberflächenmikroskopie (PEEM) der katalytischen Prozesse, welche auf den planaren Modellkatalysatoren (z.B. ZrOx/Pd) untersucht werden, wird die Rolle der Metall-Oxid-Grenzfläche im Bezug auf die katalytische Aktivität untersucht.Weiters nutzt die Arbeitsgruppe Modellsysteme um das katalytische Verhalten einzelner metallischer Nanopartikel zu simulieren. Dadurch wird das Problem, dass die meisten oberflächensensitiven Messmethoden über die große Anzahl der vorhandenen katalytisch aktiven Nanopartikel (mit unterschiedlicher Größe, Form, Oberflächenstruktur, etc.) mitteln und somit individuelle Charakteristika der einzelnen Partikel "verschmieren", umgangen. Solches "Verschmieren" würde u.a. die Detektion und die Untersuchung von fluktuationsinduzierten Effekten erschweren, da schon Fluktuationen im Umfeld eines einzelnen nanometergroßen Partikels die zu untersuchende Reaktionskinetik eines nanometergroßen Reaktionssystems stark beeinflussen können, beispielsweise durch das Rauschen induzierte kinetische Übergänge. Oberflächenspezifische "Surface Science" Methoden:Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS)Photoelektronenemissionsmikroskopie (PEEM)Niederenergetische Elektronenbeugung (LEED)Augerelektronenspektroskopie (AES)Feldemissionsmikroskopie (FEM)Feldionenmikroskopie (FIM)Felidionenenergiespekroskopie (FIAES- Field ion appearance energy spectroscopy), Spektromikroskopie.

The group of Prof. Suchorski focuses on visualization of surface reactions in real time on a mesoscopic scale using photoemission electron microscopy (PEEM) and on a nanoscale using field emission (FEM) and field ion (FIM) microscopy. Catalytic reactions on nanostructured and nanosized materials are studied with a main focus on discontinuous oxide films grown on single crystal metal (Pt) substrates (so called "inverse" model catalysts) and on nanosized platinum metal (Pt, Rh) tips. Spectroscopic measurements (XPS) and microscopic structure studies (STM) of catalytic processes on UHV-grown inverse planar model catalysts (CeOx/Pt) are performed in order to reveal the role of the metal-oxide interface in the catalytic performance. The group also carries out studies on model systems mimicking the catalytic behaviour of individual metal nanoparticles. This allows avoiding the "averaging problem" of most surface-sensitive methods, i.e. averaging the data over a huge number of catalytically active nanoparticles, thus "smoothing out" the characteristics of the individual nanoparticles (that may vary in size, shape, roughness, etc). Such "averaging" makes the detection of e.g. fluctuation-induced effects difficult. The fluctuations are confined to a single particle (a few nm in size) and can lead to severe deviations from "mean-field" reaction causing e.g. noise-induced kinetic transitions in the nanosized reaction systems.Surface-specific "Surface Science" methods:X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)Photoemission Electron Microscopy (PEEM)Low energy electron diffraction (LEED)Auger electron spectroscopy (AES)Field emission microscopy (FEM)Field ion microscopy (FIM)Field ion appearance energy spectroscopy (FIAES), "spectromicroscopy"