Mittels optischen und elektronischen Methoden untersuchen wir Erhitzungseffekte und interne Temperaturverteilungen in Leistung, ESD Schutz und optoelektronischen Geräten mit Nanosekundenauflösung. Ein weiteres Forschungsfeld ist die Charakterisierung von Interferenzen und Zuverlässigkeit in GaN Bauelementen, hauptsächlich für Leistungsanwendungen.

Using transient optical and electrical methods we investigate self-heating effects and internal current/temperature distribution in power, ESD protection and opto-electronics devices with ns time resolution. Another field of research is the characterization of interface states, breakdown phenomena and reliability in GaN based devices, mainly for power applications. Fluctuation phenomena in nanostructures are also investigated.