Christian Doppler Laboratorium für Oberflächen- und Grenzflächenanalytik mit TOF-SIMS

01.07.2007 - 31.12.2009
Research funding project
Das CDL für Oberflächen- und Grenzflächenanalytik mit TOF SIMS ist eine Kooperation der TU Wien mit AT&S AG, einem weltweit führenden Hersteller von Leiterplatten. Diese Leiterplatten sind komplexe, aber hochdefinierte, strukturierte Verbundwerkstoffe die aus Metallen und Polymeren aufgebaut sind. Für die weitere Entwicklung von verkleinerten Strukturen mit erweiterter Funktionalität ist der Einsatz von Methoden der Hochleitsungsanalytik notwendig. TOF-SIMS ist ein wichtiges Werkzeug für diese Aufgabe, da sowohl die dreidimensionale Verteilungen von Spurenelementen als auch organische Oberflächen charakterisiert werden können. Allerdings ist aufgrund der komplexen dreidimensionalen Struktur auch eine Weiterentwicklung der Messmethoden, der Dateninterpretation und der Datenvisualisierung notwendig. Das Forschungsvorhaben umfasst vor allem die analytische Unterstützung der Weiterentwicklung der Produktionstechnologie. Für die Analyse von Metall-Polymer Verbundwerkstoffen sind umfangreiche analytische Probleme der Grundlagenforschung zu lösen. So sind Metall-Metall Grenzflächen bereits intensiv untersucht, aber die Analytik von Grenzflächen zwischen unterschiedlichen Polymeren und zwischen Polymeren und Keramik ist noch weitgehend unerforscht. Zur Identifikation von Verunreinigungen wird eine umfangreiche Datenbank mit Massenspektren von in der Produktion verwendeten Chemikalien erstellt. Für die Quantifizierung von organischen und anorganischen Kontaminationen auf unterschiedlichen Substraten mittels TOF-SIMS werden Vergleichsmessungen mit anderen hoch spezialisierten analytischen Verfahren vorgenommen. Ein weiteres wichtiges Forschungsvorhaben ist die Datenauswertung von vieldimensionalen Daten unter Berücksichtigung der speziellen Anforderungen der TOF-SIMS Messungen. Da die Standardsoftware der Gerätehersteller in diesem Bereich noch unzureichend ist, wird ein interaktives Programm zur Messdatenverarbeitung und Visualisierung erstellt. Diese Werkzeuge werden unter einer Open-Source-Lizenz allen TOF-SIMS Betreibern zur Verfügung gestellt werden.

People

Project leader

Project personnel

Institute

Förderungmittel

  • Christian Doppler Forschungsgesells (National) Christian Doppler Forschungsgesellschaft (CDG)

Research focus

  • Composite Materials: 20%
  • Surfaces and Interfaces: 50%
  • Materials Characterization: 30%

Keywords

GermanEnglish
TOF-SIMSTOF-SIMS
OberflächenanalytikSurface Analysis
WerkstoffanalytikMaterial Science
LeiterplattenCircuit Bords

External partner

  • Christian Doppler Forschungsgesellschaft

Publications