AFM-SECM Untersuchungen mit Bor dotierten Diamantelektroden

01.04.2009 - 31.12.2011
Assigned research project
In diesem Projekt sollen bordotierte Diamantschichten als mögliches Elektrodenmaterial für ein kombiniertes AFM-SECM Analyseverfahren untersucht werden. Erste Prototypen sollten ausgehend von kommerziell erhältlichen diamantbeschichteten AFM Spitzen hergestellt werden. Diese werden durch eine Oxinitridschicht isoliert und in weiterer Folge durch fokussierte Ionenstrahlverfahren Ultramicro- und Nanoelektroden freigelegt. In weiterer Folge sollen diese Spitzen auf deren möglichen Einsatz für in situ Leitfähigkeitsmessungen getestet werden. Diese soll es ermöglichen gleichzeitig die morphologischen und elektrochemischen Veränderungen von Oberflächen unter Reaktionsbedingungen untersuchen zu können.

People

Project leader

Sub project leader

Project personnel

Institute

Auftrag/Kooperation

  • Planai Hochwurzenbahnen Gmbh

Research focus

  • Non-metallic Materials: 10%
  • Biological and Bioactive Materials: 5%
  • Special and Engineering Materials: 10%
  • Structure-Property Relationsship: 5%
  • Nano-electronics: 10%
  • Sensor Systems: 35%
  • Sustainable Production and Technologies: 5%
  • Surfaces and Interfaces: 10%
  • Materials Characterization: 10%

Keywords

GermanEnglish
Atomkraftmikroskopieatomic force microscopie
Elektrochemische Mikroskopiescanning electrochemical microscopy

External partner

  • Department of Chemistry and Biochemistry
  • Institut for Chemistry and Technology of Materials
  • Department of Chemistry

Publications