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Project authority
Lehre
Forschung
Organisation
3D NanoChemiscope¿Kombiniertes SIMS-SFM Instrument für die dreidimensionale chemische Analytik von Nanostrukturen
01.09.2008 - 31.08.2012
Research funding project
Das Ziel dieses Projektes ist die Entwicklung einer inovativen und neuartiger Kombination einer neuen TOF-SIMS mit substantiell verbesserten lateralen Auflösung und Empfindlichkeit und einen neuen hoch auflösender SFM. diese beiden Techniken liefern complementäre Information der Oberflächen Chemie und Topologie im Nanometer-Bereich. In Kombination mit einem durch das SFM gemessenen schichtweisen Abtrag der Probe mittels niederenergetischen Zerstäuben ist dieses kombinierte UHV-Gerät einzigartig für die 3-dimensionalen Charakterisierung von nanostrukturen. Dieses gilt sowohl für anorganische als auch organische Strukturen bis zu einer lateralen Ausdehnung im 10 nm-Bereich und einer Tiefe von einem nm. Gemeinsam mit einer neuen Software für die Verarbeitung und Vizualisierung von 3-dimensionalen Verteilungen aller chemischen Signale führt das einen neuen "3D Nanochemiscope"
People
Project leader
Herbert Hutter
(E164)
Project personnel
Georg Josef Ziegler
(E164)
Institute
E164 - Institut für Chemische Technologien und Analytik
Förderungmittel
European Commission (EU)
RP7 I.4 ZUSAMMENARBEIT Nanowissenschaften und -technologien, Werkstoffe und Produktion
7.Rahmenprogramm für Forschung
Europäische Kommission - Rahmenprogamme
Europäische Kommission
Ausschreibungskennung FP7-NMP-2007-SME-1
Antragsnummer 200613
Research focus
Surfaces and Interfaces: 50%
Materials Characterization: 50%
Keywords
German
English
TOF-SIMS
TOF-SIMS
Nano-Analytik
Nano-Analytik
SFM
SFM
Publications
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