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138.049 Elektronenmikroskopie
Diese Lehrveranstaltung ist in allen zugeordneten Curricula Teil der STEOP.
Diese Lehrveranstaltung ist in mindestens einem zugeordneten Curriculum Teil der STEOP.

2017S, PR, 4.0h, 5.0EC, wird geblockt abgehalten

Merkmale

  • Semesterwochenstunden: 4.0
  • ECTS: 5.0
  • Typ: PR Projekt

Ziele der Lehrveranstaltung

Einweisung in die Bedienung und Arbeitsweise des analytischen Transmissionselektronenmikroskopes. Selbständiges Arbeiten am Mikroskop als Voraussetzung für die Durchführung von Projektarbeiten, Projektarbeiten, Diplomarbeiten und Dissertationen auf dem Gebiet der Elektronenmikroskopie.

Inhalt der Lehrveranstaltung

Arbeitsweise des Transmissionselektronenmikroskopes (TEM)
Praktische Arbeit am Mikroskop
Setup und Alignment des analytischen TEMs
- Alignment der strahlformenden Linsen
- Alignment der bildformenden Linsen
- Korrektur der Linsenfehler Anwendung der grundlegenden TEM-Techniken
- Hellfeldabbildung (MAG, SAMAG)
- Dunkelfeldabbildung
- Elektronenbeugung
- Verwendung des Kamerasystem (CCD/Plattenkamera)

Analytik am TEM
- Energieverlustspektrometrie (EELS)
- Energiedispersive Röntgenmikroanalyse (EDS)
- Image Filter (GIF)
- Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM)
- Bright Field, Dark Field und High Angle Annular Dark Field (DF, BF, HAADF)

Weitere Informationen

Geplante Termine SS 2017:

Es sind wieder drei Gruppen geplant, mit jeweils maximal 5 TeilnehmerInnen.
Bitte rechtzeitig anmelden! (unbedingt Gruppenanmeldung durchführen!)
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Einführender Theorieblock (für alle Gruppen gemeinsam)
Fr 3. März 2017 SEM DB 07 gelb  12:00 - 14:00
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Die Arbeiten am TEM finden im TEM Labor im Freihaus (8.Stock, gelber Turm) statt.
Dauer jeweils 09:00 bis 13:00 (außer anders angegeben)
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Gruppe 1 (english block, if required)
Mo 06.03.; Di 07.03.; Mi 08.03.; Do 09.03.
Mo 13.03.; Di 14.03.; Mi 15.03.; Do 16.03.
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Gruppe 2:
Mo 20.03.; Di 21.03.; Mi 22.03.; Do 23.03.;
Mo 27.03.; Di 28.03.; Mi 29.03.; Do 30.03.
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Gruppe 3:
Mo 24.04.; Di 25.04.; Mi 26.04.; Do 27.04.;
Di 02.05.; Mi 03.05.; Do 04.05.; Fr 05.05.
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Vortragende

Institut

LVA Termine

TagZeitDatumOrtBeschreibung
Fr.12:00 - 14:0003.03.2017 SEM 138A, FH 7. Stock, gelber TurmTheorieblock für alle Gruppen
Di.12:00 - 13:0007.03.2017FH Hörsaal 6 Vorbesprechung: SCHATTSCHNEIDER
LVA wird geblockt abgehalten

LVA-Anmeldung

Von Bis Abmeldung bis
04.10.2016 00:00 03.03.2017 09:00 03.03.2017 09:00

Anmeldemodalitäten:

Bitte die Anmeldung ausschließlich mit Hilfe des Links "zur Gruppen-Anmeldung" durchführen. Die erste Gruppe ist bevorzugt für nicht-deutsch sprechende KollegInnen vorgesehen. Bitte ignorieren Sie den Link "LVA-Anmeldung".

 

Gruppen-Anmeldung

GruppeAnmeldung VonBis
Gruppe1 (english)04.10.2016 00:0003.03.2017 09:00
Gruppe204.10.2016 00:0003.03.2017 09:00
Gruppe304.10.2016 00:0003.03.2017 09:00

Curricula

Literatur

Ein Skriptum zur Lehrveranstaltung ist erhältlich.
Transmission electron microscopy - Williams, David B. and Carter, C.Barry (empfehlenswert) (1996,2009)
Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation - Reimer, Ludwig und Kohl, Helmut (empfehlenswert)(2008) 

Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie - Alexander, Helmut (1997)
Physical principles of electron microscopy - Egerton, Ray F. (2005)
Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Präparationsmethoden - Reimer, Ludwig (1984)
Fundamentals of inelastic electron scattering - Schattschneider, Peter (1986)

Begleitende Lehrveranstaltungen

Vertiefende Lehrveranstaltungen

Weitere Informationen

  • Anwesenheitspflicht!

Sprache

Deutsch