Nach positiver Absolvierung der Lehrveranstaltung sind Studierende in der Lage die in der Lehrveranstaltung angebotenen Lehrinhalte zu erfassen und selbstständig zu interpretieren sowie sämtliche Lehrinhalte auch aktiv weiterzugeben.

Arbeitsweise des Transmissionselektronenmikroskopes (TEM)
Praktische Arbeit am Mikroskop
Setup und Alignment des analytischen TEMs
- Alignment der strahlformenden Linsen
- Alignment der bildformenden Linsen
- Korrektur der Linsenfehler Anwendung der grundlegenden TEM-Techniken
- Hellfeldabbildung (MAG, SAMAG)
- Dunkelfeldabbildung
- Elektronenbeugung
- Verwendung des Kamerasystem (CCD/Plattenkamera)

Analytik am TEM
- Energieverlustspektrometrie (EELS)
- Energiedispersive Röntgenmikroanalyse (EDS)
- Image Filter (GIF)
- Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM)
- Bright Field, Dark Field und High Angle Annular Dark Field (DF, BF, HAADF)

Interaktiver Kurs

Anmeldung ausschließlich über die Gruppenanmeldung.

Priorität haben jene Studierende, die Transmissionselektronenmikroskopie unmittelbar für ihre Forschung benötigen und selbständig anwenden werden.
Es besteht leider keine Garantie auf einen Praktikumsplatz.
Bitte nehmen Sie daher bei Interesse bis 26.9. Kontakt mit einem der Vortragenden auf, um die weitere Planung durchzuführen.

Geplante Termine WS 2024/25:

Die Arbeiten am TEM finden im TEM Labor im Freihaus (8.Stock, gelber Turm) statt.
Dauer: üblicherweise 09:00 bis 13:00

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Theorieblock für alle Gruppen
Fr 4.10.2024 
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Gruppe 1 (Englisch):

Montag      07.Okt.
Dienstag    08.Okt.
Mittwoch    09.Okt.
Donnerstag  10.Okt.

Montag      14.Okt.
Dienstag    15.Okt.
Mittwoch    16.Okt.
Donnerstag  17.Okt.
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Gruppe 2:

Dienstag    05.Nov. 
Mittwoch    06.Nov. 
Donnerstag  07.Nov.
Freitag     08.Nov.

Montag      11.Nov. 
Dienstag    12.Nov. 
Mittwoch    13.Nov.
Donnerstag  14.Nov.
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Gruppe 3:

Montag      18.Nov.     
Dienstag    19.Nov.    
Mittwoch    20.Nov.     
Donnerstag  21.Nov.     

Montag      25.Nov.     
Dienstag    26.Nov.    
Mittwoch    27.Nov.    
Donnerstag  28.Nov.    
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Zeugnis

Priorität haben jene Studierende, die Transmissionselektronenmikroskopie unmittelbar für ihre Forschung benötigen und selbständig anwenden werden.

Es besteht leider keine Garantie auf einen Praktikumsplatz.
Bitte nehmen Sie zwecks Anmeldung Kontakt mit einem der Vortragenden auf, um die weitere Planung durchzuführen. 

Ein Skriptum zur Lehrveranstaltung ist erhältlich.

Transmission electron microscopy - Williams, David B. and Carter, C.Barry (empfehlenswert) (1996,2009)

Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation - Reimer, Ludwig und Kohl, Helmut (2008) (empfehlenswert)

Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie - Alexander, Helmut (1997)
Physical principles of electron microscopy - Egerton, Ray F. (2005)
Einführung in die Elektronenmikroskopie - Heimendahl, Manfred von (1984)
Electron microscopy of materials - Heimendahl, Manfred von (1980)
Electron microscopy of thin crystals - Hirsch, P. B. (1977)
High-resolution electron microscopy - Spence, John C. H. (2008)
Transmission electron microscopy of materials - Thomas, Gareth (1990) Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Präparationsmethoden - Reimer, Ludwig (1984)
Fundamentals of inelastic electron scattering - Schattschneider, Peter (1986)