141.211 X-Ray Analytical Methods
Diese Lehrveranstaltung ist in allen zugeordneten Curricula Teil der STEOP.
Diese Lehrveranstaltung ist in mindestens einem zugeordneten Curriculum Teil der STEOP.

2019S, VO, 2.0h, 3.0EC

Merkmale

  • Semesterwochenstunden: 2.0
  • ECTS: 3.0
  • Typ: VO Vorlesung

Ziele der Lehrveranstaltung

Einführung in die RÖngtenanalytik, Leistungsfähigkeit und Limitation, sowie Anwendungen.

Inhalt der Lehrveranstaltung

I

  • Introduction to X-ray physics,
  • Introduction to X-ray fluorescence analysis (XRF)
  • X-ray sources,
  • Energy dispersive XRF
  • X-ray optics.
  • Introduction to Various methods of X-ray analysis
  • XRF
  • 2D and 3 D X-ray imaging,
  • X-ray absorption spectroscopy,(XANES, EXAFS)
  • Microanalysis, (µ-XRF)
  • Total Reflection XRF (TXRF),
  • Synchrotron radiation induced XRF ( SR-XRF)

 

Vortragende

Institut

LVA Termine

TagZeitDatumOrtBeschreibung
Mo.16:00 - 17:0004.03.2019Seminarraum AI Vorbesprechung
14:00 - 18:0014.05.2019 - 17.05.2019 Meeting point Aula AtominstitutBlock LVA
X-Ray Analytical Methods - Einzeltermine
TagDatumZeitOrtBeschreibung
Mo.04.03.201916:00 - 17:00Seminarraum AI Vorbesprechung
Di.14.05.201914:00 - 18:00 Meeting point Aula AtominstitutBlock LVA
Mi.15.05.201914:00 - 18:00 Meeting point Aula AtominstitutBlock LVA
Do.16.05.201914:00 - 18:00 Meeting point Aula AtominstitutBlock LVA
Fr.17.05.201914:00 - 18:00 Meeting point Aula AtominstitutBlock LVA

Leistungsnachweis

mündlich

LVA-Anmeldung

Von Bis Abmeldung bis
01.05.2019 00:00 01.10.2019 00:00

Curricula

StudienkennzahlSemesterAnm.Bed.Info
066 461 Technische Physik
066 461 Technische Physik

Literatur

Handbook of X-ray Spektrometry, Marcel Dekker 2002, Van Grieken, Markowicz X-ray Spectrometry: recent technological advances, Wiley 2004, Tsuji, Injuk, Van Grieken,

Vorausgehende Lehrveranstaltungen

Sprache

Englisch