141.044 Methods of Quantitative x-Ray Fluorescence Analysis
Diese Lehrveranstaltung ist in allen zugeordneten Curricula Teil der STEOP.
Diese Lehrveranstaltung ist in mindestens einem zugeordneten Curriculum Teil der STEOP.

2015S, VO, 2.0h, 3.0EC

Merkmale

  • Semesterwochenstunden: 2.0
  • ECTS: 3.0
  • Typ: VO Vorlesung

Ziele der Lehrveranstaltung

Review of methods to convert Intensities of characteristic fluorescence lines into concentration of the respective element which is present in the sample.

Inhalt der Lehrveranstaltung

1. Basic principles of X-ray Fluorescence Analysis (XRF). Qualitative Analysis - Peak fitting models, Background calculations: 2. Quantitative Analysis: General approach - thick-intermediate thick-thin sample approximation. Multielement-samples - Interelement effect. Conversion Intensity-Concentration. Matrix correction fundamental parameters - empirical coefficients. PC aided determination of concentration - Software package AXIL - actual developments.

Vortragende

Institut

LVA Termine

TagZeitDatumOrtBeschreibung
Di.16:00 - 17:0014.04.2015 Start Block
Di.10:00 - 13:0012.05.2015Seminarraum AI Methods of Quantitative x-Ray Fluorescence Analysis
Di.10:00 - 13:0019.05.2015Seminarraum AI Methods of Quantitative x-Ray Fluorescence Analysis
Di.10:00 - 13:0026.05.2015Seminarraum AI Methods of Quantitative x-Ray Fluorescence Analysis
Di.10:00 - 13:0002.06.2015Seminarraum AI Methods of Quantitative x-Ray Fluorescence Analysis

Leistungsnachweis

(mündlich) oral

LVA-Anmeldung

Von Bis Abmeldung bis
05.03.2015 16:15

Anmeldemodalitäten:

Atominstitut, Bibliothek Ort: Vorbesprechung

Curricula

Literatur

Ein Skriptum zur Lehrveranstaltung ist erhältlich. Lecturer E. P. Bertin: Principles and Practice of X-ray Spectrometric Analysis: Jenkins, Gould, Gedche: Quantitative X-Ray Spectrometry: R. v. Grieken, A. Markowicz: Handbook of W-ray Spectrometry.

Vorkenntnisse

Atom and Nuclear Physics, Radiation Physics, Special techniques in XRF

Sprache

Englisch