376.052 Nanometrology
Diese Lehrveranstaltung ist in allen zugeordneten Curricula Teil der STEOP.
Diese Lehrveranstaltung ist in mindestens einem zugeordneten Curriculum Teil der STEOP.

2022S, VU, 3.0h, 4.5EC, wird geblockt abgehalten

Merkmale

  • Semesterwochenstunden: 3.0
  • ECTS: 4.5
  • Typ: VU Vorlesung mit Übung
  • Format der Abhaltung: Präsenz

Lernergebnisse

Nach positiver Absolvierung der Lehrveranstaltung sind Studierende in der Lage:

  • die relevanten physikalischen Prinzipien für Messungen auf der Nanometer-Skala zu erläutern.
  • die wichtigsten Methoden der Rastersonden-Mikroskopie einander gegenüberzustellen und die geeignetste Methode für eine konkrete Messaufgabe auszuwählen.
  • die Funktionsweise eines Rasterkraft-Mikroskops und dessen Komponenten zu erklären.
  • ein Rasterkraft-Mikroskop im Labor zu bedienen.
  • Proben zu präparieren und deren Oberfläche mittels Rasterkraft-Mikroskopie zu analysieren.
  • wissenschaftliche Literatur aus dem Bereich Rastersonden-Mikroskopie zu präsentieren.

Inhalt der Lehrveranstaltung

Grundlagen und physikalische Prinzipien auf der Nanometer-Skala, Kräfte, Limitierungen, Skalierungseffekte, hochauflösende Abbildungssysteme, Elektronenmikroskopie (SEM, TEM), Rastertunnelmikrokopie (STM), Rasterkraftmikroskopie (AFM) und verwandte Methoden (MFM, KFM), Kraftmessungen, Einzelmolekuelspektroskopie, Dynamik eines AFMs und Hochgeschwindigkeits-AFM, Bildverarbeitung, nanomechanische Charakterisierung, Nano-Indentation, Nano-Lithographie, Partikelmanipulation, Nano-Robotik, Wissenschaftliche Instrumentierung, physikalische Sensor- und Aktuationsprinzipien.

Commercial AFM from Bruker CooperationMFM image of a hard disc drive (HDD).

Methoden

Vorlesung, Laborübung

Prüfungsmodus

Prüfungsimmanent

Weitere Informationen

Diese Lehrveranstaltung ist Teil des Curriculums Masterstudium Energie- und Automatisierungstechnik und wird im Zuge des Wahlmoduls Precision Engineering angeboten. Um das Modul abzuschließen, ist zusätzlich der Besuch der Lehrveranstaltung 376.052 Optische Messtechnik notwendig.

Vortragende Personen

Institut

LVA Termine

TagZeitDatumOrtBeschreibung
09:00 - 17:0013.06.2022 - 24.06.2022 AFM Labor (ACIN CA0432)Nanometrology
Nanometrology - Einzeltermine
TagDatumZeitOrtBeschreibung
Mo.13.06.202209:00 - 17:00 AFM Labor (ACIN CA0432)Nanometrology
Di.14.06.202209:00 - 17:00 AFM Labor (ACIN CA0432)Nanometrology
Mi.15.06.202209:00 - 17:00 AFM Labor (ACIN CA0432)Nanometrology
Fr.17.06.202209:00 - 17:00 AFM Labor (ACIN CA0432)Nanometrology
Mo.20.06.202209:00 - 17:00 AFM Labor (ACIN CA0432)Nanometrology
Di.21.06.202209:00 - 17:00 AFM Labor (ACIN CA0432)Nanometrology
Mi.22.06.202209:00 - 17:00 AFM Labor (ACIN CA0432)Nanometrology
Do.23.06.202209:00 - 17:00 AFM Labor (ACIN CA0432)Nanometrology
Fr.24.06.202209:00 - 17:00 AFM Labor (ACIN CA0432)Nanometrology
LVA wird geblockt abgehalten

Leistungsnachweis

  1. Mündl. Prüfung 2-3 Wochen nach der Lehrveranstaltung (Termin siehe unter Prüfung): 50%
  2. Seminarvortrag: 25%
  3. Labor-Kurzbericht: 25%

Anwesenheitspflicht während Vorlesung und Laborübung (in Präsenz)!

Aufgrund des Infektionsgeschehens kann es notwendig sein, das Format der Veranstaltung kurzfristig anzupassen.

Prüfungen

TagZeitDatumOrtPrüfungsmodusAnmeldefristAnmeldungPrüfung
Fr.10:00 - 13:0007.07.2023 mündlich14.06.2023 23:59 - 06.07.2023 23:59in TISSNanometrology oral exam 2022
Fr.10:00 - 13:0014.07.2023 mündlich14.06.2023 23:59 - 06.07.2023 23:59in TISSNanometrology oral exam 2022

LVA-Anmeldung

Von Bis Abmeldung bis
07.03.2022 00:00 07.06.2022 22:59 25.05.2022 22:59

Curricula

StudienkennzahlSemesterAnm.Bed.Info
066 506 Energie- und Automatisierungstechnik

Literatur

Es wird kein Skriptum zur Lehrveranstaltung angeboten.

Begleitende Lehrveranstaltungen

Weitere Informationen

  • Anwesenheitspflicht!

Sprache

Englisch