362.083 Halbleiterelektronik und Bauelemente, Vertiefung
Diese Lehrveranstaltung ist in allen zugeordneten Curricula Teil der STEOP.
Diese Lehrveranstaltung ist in mindestens einem zugeordneten Curriculum Teil der STEOP.

2020S, VU, 4.0h, 7.0EC
Diese Lehrveranstaltung wird nach dem neuen Modus evaluiert. Mehr erfahren

LVA-Bewertung

Merkmale

  • Semesterwochenstunden: 4.0
  • ECTS: 7.0
  • Typ: VU Vorlesung mit Übung

Lernergebnisse

Nach positiver Absolvierung der Lehrveranstaltung sind Studierende in der Lage den Alltag im Labor zu beschreiben, die Herausforderungen im Labor zusammenzufassen sowie ihre eigenen Fähigkeiten im Bereich der Halbleitertechnologie einzuschätzen.

Inhalt der Lehrveranstaltung

Lehrinhalte nach Betreuern: - Optische Charakterisierung (zeit- und ortsaufgelöste Temperatumessungen) von Halbleiterbauelementen (Pogany) - Rasterkraftmikroskopie, Rastertunnelmikroskopie und verwandte Methoden an Halbleiternanostrukturen (Smoliner) - Halbleiterlaser, Heterostrukturen, Molekularstrahlepitaxie und Nanotechnologie (Strasser)

 

Methoden

Es gibt  einen Vorlesungsblock, einen Test, und eine eintägige Laborübung, für die ein Protokoll erstellt werden muss

Prüfungsmodus

Mündlich

Vortragende

Institut

Leistungsnachweis

Es gibt  einen Vorlesungsblock, einen Test, und eine eintägige Laborübung, für die ein Protokoll erstellt werden muss. Der Test und das Protokoll werden bewertet.

 

LVA-Anmeldung

Von Bis Abmeldung bis
31.01.2020 00:00 27.02.2020 00:00

Anmeldemodalitäten:

Anmeldung (auch ausserhalb des offiziellen Anmeldezeitraums !) per email (juergen.smoliner@tuwien.ac.at), telefonisch (58801 36312) oder am besten persönlich.

Curricula

StudienkennzahlSemesterAnm.Bed.Info
066 434 Materialwissenschaften
066 439 Mikroelektronik

Literatur

Es wird kein Skriptum zur Lehrveranstaltung angeboten.

Weitere Informationen

  • Anwesenheitspflicht!

Sprache

Deutsch