360.238 Experimentelle Bauteilcharakterisierung in der Mikroelektronik
Diese Lehrveranstaltung ist in allen zugeordneten Curricula Teil der STEOP.
Diese Lehrveranstaltung ist in mindestens einem zugeordneten Curriculum Teil der STEOP.

2018W, SE, 2.0h, 3.0EC

Merkmale

  • Semesterwochenstunden: 2.0
  • ECTS: 3.0
  • Typ: SE Seminar

Ziele der Lehrveranstaltung

Moderne mikroelektronische Bauteile, wie zum Beispiel Transistoren, sind heutzutage nur mehr wenige Nanometer klein. Den unzähligen Vorteilen wie geringere Leistungsaufnahme oder höhere Packungsdichte stehen Zuverlässigkeitsaspekte wie die sog. Bias Temperature Instability und die sog. Hot Carrier Degradation gegenüber. Grob gesprochen beruhen diese Mechanismen auf einzelnen Defekten in der mikroskopischen Struktur welche während dem normalen Betrieb einerseits erzeugt, andererseits aber auch deaktiviert, werden, und so die Charakteristik sowie die Lebensdauer der Bauteile nachteilig beeinflussen. Da solche Lade- und Entladevorgänge sehr schnell ablaufen handelt es sich hierbei um eine spannende experimentelle Herausforderung, welche sich mit herkömmlichen Messgeräten kaum oder nur sehr umständlich bewerkstelligen lassen.

Das Hauptaugenmerk dieser LVA ist auf die Charakterisierung solcher Defekte gelegt (Charge Pumping, CV Messungen und Einzeldefektspektroskopie), wobei ausgewählte Themen vertieft und genau behandelt werden. Dazu wird das eigens dafür entwickelte Messgerät verwendet und stetig erweitert. Im Rahmen dieser LVA vertiefen Studierende ihr Verständnis für physikalische Vorgänge in mikroelektronischen Bauteilen sowie im Bereich Messtechnik, eigenständiger Entwicklung von Messaufbauten, Schaltungsentwicklung und Programmieren (FPGA, Mikroprozessor und Python oder C/C++).

Inhalt der Lehrveranstaltung

Es werden gezielt aktuelle Problemstellungen im Bereich der Defektspektroskopie sowie Zuverlässigkeit von mikroelektronischen Bauelementen behandelt. Diese umfassen:

  • Messtechnische Analyse von einzelnen Defekten in Transistoren

  • Weiterentwicklung der Messaufbauten

  • Hardware- und Softwareentwicklung, Ethernet, Touch-Display

  • Programmieren von FPGA und Mikroprozessoren

  • Implementierung von Analysesoftware in einem Computercode in Python und C/C++

  • Literaturstudie

Weitere Informationen

Zeit: Montag, 14:15 bzw. freie Zeiteinteilung, da Projekte selbstständig bearbeitet werden.

Ort: Seminarraum E360, Gußhausstraße 27-29, 5. Stock (Raum CD 0520)

Vorbesprechung und Beginn: Montag, 8. Oktober, 14:15


Beachten Sie beim Verfassen der Ausarbeitung bitte die Richtlinie der TU Wien zum Umgang mit Plagiaten: https://www.tuwien.ac.at/fileadmin/t/ukanzlei/Lehre_-_Leitfaden_zum_Umgang_mit_Plagiaten.pdf


Beachten Sie beim Verfassen der Ausarbeitung bitte die Richtlinie der TU Wien zum Umgang mit Plagiaten: https://www.tuwien.at/fileadmin/Assets/dienstleister/Datenschutz_und_Dokumentenmanagement/Lehre_-_Leitfaden_zum_Umgang_mit_Plagiaten.pdf

Vortragende

Institut

Leistungsnachweis

Laufende Beurteilung, abschließende Präsentation der Ergebnisse

LVA-Anmeldung

Von Bis Abmeldung bis
10.09.2018 08:00 15.10.2018 23:59 15.10.2018 23:59

Curricula

StudienkennzahlSemesterAnm.Bed.Info
710 FW Freie Wahlfächer - Elektrotechnik

Literatur

Es wird kein Skriptum zur Lehrveranstaltung angeboten.

Sprache

Deutsch