Nach positiver Absolvierung der Lehrveranstaltung sind Studierende in der Lage

• Degradationsmechanismen in Halbleiterbauelementen im Detail zu verstehen.
• Theoretische Zuverlässigkeitsmodelle zu implementieren oder die Zuverlässigkeit verschiedener Technologien messtechnisch zu charakterisieren (je nach gewähltem Schwerpunkt).

Dieses Seminar dient der Vertiefung der in den beiden VUs dieses Moduls angebotenen Lehrinhalte.

Nach Wahl:

• Implementierung einer theoretischen Aufgabenstellung in einem Computercode.
• Messen von Bauelementzuverlässigkeit auf einem unser Hochgeschwindigkeits Messplätze und Datenauswertung.

Eigenständige Ausarbeitung eines Projekts.

Sollte Sie interesse an dieser LVA haben so kontaktieren Sie bitte die Vortragenden persönlich.

Präsentation der Arbeit vor Kollegen.