360.234 Mikroelektronik Zuverlässigkeit
Diese Lehrveranstaltung ist in allen zugeordneten Curricula Teil der STEOP.
Diese Lehrveranstaltung ist in mindestens einem zugeordneten Curriculum Teil der STEOP.

2016W, SE, 2.0h, 3.0EC

Merkmale

Dieses Seminar dient der Vertiefung der in den beiden VUs dieses Moduls angebotenen Lehrinhalte.

Nach Wahl:

Implementierung einer theoretischen Aufgabenstellung in einem Computercode.
Messen von Bauelementzuverlässigkeit auf einem unser Hochgeschwindigkeits Messplätze und Datenauswertung.

Beachten Sie beim Verfassen der Ausarbeitung bitte die Richtlinie der TU Wien zum Umgang mit Plagiaten: Leitfaden zum Umgang mit Plagiaten (PDF)

Nicht erforderlich

Studienkennzahl	Verbindlichkeit	Semester	Anm.Bed.	Info
066 504 Masterstudium Embedded Systems	Keine Angabe
066 508 Mikroelektronik und Photonik	Keine Angabe

Es wird kein Skriptum zur Lehrveranstaltung angeboten.

Deutsch