360.233 Mikroelektronik Zuverlässigkeit: Bauelemente
Diese Lehrveranstaltung ist in allen zugeordneten Curricula Teil der STEOP.
Diese Lehrveranstaltung ist in mindestens einem zugeordneten Curriculum Teil der STEOP.

2019W, VU, 2.0h, 3.0EC

Merkmale

  • Semesterwochenstunden: 2.0
  • ECTS: 3.0
  • Typ: VU Vorlesung mit Übung

Lernergebnisse

Nach positiver Absolvierung der Lehrveranstaltung sind Studierende in der Lage

  • wesentliche Unterschiede zwischen idealisierten und realen elektronischen Bauelementen zu diskutieren.
  • Degradationsprozesse in realen Bauelementen mit physikalischen Modellen zu beschreiben.
  • sich kritisch mit dem aktuellen Stand der Forschung im Bereich der Bauelemente-Zuverlässigkeit auseinander zu setzen.
  • verschiedene Zuverlässigkeitsmodelle hinsichtlich ihrer Anwendbarkeit bewerten.

Inhalt der Lehrveranstaltung

Das Verständnis von Zuverlässigkeitsproblemen erfordert ein Wissen in mehreren Gebieten, welche im Grundstudium ETIT nur gestreift werden. Dies liegt daran, dass in Zuverlässigkeitsproblemen nicht nur eine hinreichend genaue Beschreibung der Elektronen wichtig ist, sondern zusätzlich noch das Verhalten der Atome näher betrachtet werden muss, da auf Grund von Stressbedingungen chemische Bindungen gebrochen werden. Dieses Zusammenspiel der Elektronen und Kerne ist essentiell für das Verständnis vieler relevanter elektro-chemischer Reaktionen. Des weiteren sind moderne Bauelemente so klein, dass einzelne Defekte einen signifikanten Einfluss auf das Bauelementverhalten haben können und daher z.B. als Schwellspannungsverschiebung oder Beweglichkeitsreduktion sichtbar werden. Die Erzeugung dieser Defekte kann mit stochastischen Prozessen (Markov Prozessen) beschrieben werden.  Diese VU vermittelt nun die theoretischen Grundlagen aus den Gebieten der Festkörperphysik, Chemie und Wahrscheinlichkeitsrechnung, welche für das Verständnis von Zuverlässigkeitsproblemen wichtig sind.


Schlagwörter: Idealisiertes im Vergleich zum realen Bauelementverhalten, Variabilität, ideale Kristalle und Grenzflächen im Vergleich zu realen Strukturen, Defekte, Grundlagen Defektphysik, Grundlagen chemischer Reaktionen und stochastische/deterministische Beschreibungsmethoden, Interaktion Defekte/Bauelement, wichtige Degradationsphenomäne (NBTI/PBTI, hot carriers, TDDB), Rauschen (RTN, 1/f).

Methoden

Vortrag, Rechen- und Simulationsübungen mit Diskussion der Ergebnisse

Prüfungsmodus

Mündlich

Vortragende

Institut

Leistungsnachweis

Mündliche Prüfung nach positiver Beurteilung des Übungsteiles - Anmeldung in TISS.

LVA-Anmeldung

Von Bis Abmeldung bis
30.08.2019 00:00 04.10.2019 00:00 25.10.2019 01:00

Curricula

Literatur

Die Unterlagen befinden sich unter

https://tgras.iue.tuwien.ac.at/owncloud/public.php?service=files&t=4d0174cdf5fa53bebf48b419b17aa0ea

Vorkenntnisse

Kenntnisse in Quantenmechanik werden erwartet (VU Quantenelektronik, 360.227)

Vorausgehende Lehrveranstaltungen

Sprache

Deutsch