Theoretische Grundlagen: Symmetrie von Kristallen, Gitter, Elementarzelle, Gitterebenen, Miller-Indizes, Röntgenbeugung am Pulver, Beugungskegel, Bragg'sche Gleichung.
Instrumentierung: Bragg-Brentano-Geometrie, Röntgenröhre, Divergenzspalt, Filter/Monochromator, Detektoren.
Probenpräparation.
Messung.
Auswertung: Indizierung, Bestimmung der Metrik, Phasenidentifikation, Datenbanksuche, Profil-Fit, Rietveld-Verfeinerung, Kristallitgröße.