164.182 Oberflächen- und Grenzflächenanalytik
Diese Lehrveranstaltung ist in allen zugeordneten Curricula Teil der STEOP.
Diese Lehrveranstaltung ist in mindestens einem zugeordneten Curriculum Teil der STEOP.

2019W, VO, 2.0h, 3.0EC

Merkmale

  • Semesterwochenstunden: 2.0
  • ECTS: 3.0
  • Typ: VO Vorlesung

Lernergebnisse

Nach positiver Absolvierung der Lehrveranstaltung sind Studierende in der Lage die Grundprinzipien, den Aufbau und die Anwendungen der wichtigsten oberflächenanalytischen Methoden zu verstehen, sowie die Stärken und Schwächen zu beurteilen.

Inhalt der Lehrveranstaltung

Überblick über die wichtigsten Methoden: Photonensondentechniken: Oberflächenanalytische Aspekte der Schwinungsspektroskopie (RAMAN (SERS), IR (Reflexions- Absorptionstechnik)), Röntgenabsorptionsspektrometrie (EXAFS, NEXAFS), Photoelektronenspektroskopie (XPS, UPS); Elektronensondentechniken: Analytische Elektronenmikroskopie (TEM, THEED, TEELS), Elektronenbeugung (LEED, RHEED), Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS, REELS), Rasterelektronenmikroskopie, Elektronenstrahlmikroanalyse (EPXMA/SEM), Augerelektronenspektroskopie (AES); Ionensondentechniken: Streumethoden (RBS, ISS), Elastic Recoil Detection (ERD), Sputtermethoden (Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS), Sekundärneutralteilchen-Massenspektrometrie (SNMS)), aktivierungsanalytische Methoden (CPAA); Feldsondentechniken: Feldionenmikroskopie, Atomsonde; Nahfeld-Rastersondentechniken: AFM, STM, SNOM. Physikalische Grundlagen, Gerätetechnik, Datenauswertung (Quantifizierung) und Analytische Charakteristika (Möglichkeiten und Limitierungen). Exemplarische Besprechung der Anwendungsmöglichkeiten mit Vor- und Nachteilen der verschiedenen Methoden.

Methoden

Überblick über die wichtigsten Methoden: Photonensondentechniken: Oberflächenanalytische Aspekte der Schwinungsspektroskopie (RAMAN (SERS), IR (Reflexions- Absorptionstechnik)), Röntgenabsorptionsspektrometrie (EXAFS, NEXAFS), Photoelektronenspektroskopie (XPS, UPS); Elektronensondentechniken: Analytische Elektronenmikroskopie (TEM, THEED, TEELS), Elektronenbeugung (LEED, RHEED), Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS, REELS), Rasterelektronenmikroskopie, Elektronenstrahlmikroanalyse (EPXMA/SEM), Augerelektronenspektroskopie (AES); Ionensondentechniken: Streumethoden (RBS, ISS), Elastic Recoil Detection (ERD), Sputtermethoden (Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS), Sekundärneutralteilchen-Massenspektrometrie (SNMS)), aktivierungsanalytische Methoden (CPAA); Feldsondentechniken: Feldionenmikroskopie, Atomsonde; Nahfeld-Rastersondentechniken: AFM, STM, SNOM. Physikalische Grundlagen, Gerätetechnik, Datenauswertung (Quantifizierung) und Analytische Charakteristika (Möglichkeiten und Limitierungen). Exemplarische Besprechung der Anwendungsmöglichkeiten mit Vor- und Nachteilen der verschiedenen Methoden.

Prüfungsmodus

Mündlich

Vortragende

Institut

LVA Termine

TagZeitDatumOrtBeschreibung
Mi.08:00 - 10:0002.10.2019 - 22.01.2020Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Oberflächen- und Grenzflächenanalytik - Einzeltermine
TagDatumZeitOrtBeschreibung
Mi.02.10.201908:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Mi.09.10.201908:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Mi.16.10.201908:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Mi.23.10.201908:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Mi.30.10.201908:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Mi.06.11.201908:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Mi.13.11.201908:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Mi.20.11.201908:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Mi.27.11.201908:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Mi.04.12.201908:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Mi.11.12.201908:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Mi.18.12.201908:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Mi.08.01.202008:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Mi.15.01.202008:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher
Mi.22.01.202008:00 - 10:00Seminarraum BA 02A 164.182 Friedbacher

Leistungsnachweis

Mündliche Prüfung

 

LVA-Anmeldung

Von Bis Abmeldung bis
15.10.2019 00:00 16.10.2022 00:00

Curricula

Literatur

Es wird kein Skriptum zur Lehrveranstaltung angeboten.

Sprache

Deutsch