Systematischer Überblick über Grundlagen, Gerätetechnik, Analytische Charakteristika und Einsatz der wichtigsten Methoden der Oberflächen- und Grenzflächenanalytik

Überblick über die wichtigsten Methoden: Photonensondentechniken: Oberflächenanalytische Aspekte der Schwinungsspektroskopie (RAMAN (SERS), IR (Reflexions- Absorptionstechnik)), Röntgenabsorptionsspektrometrie (EXAFS, NEXAFS), Photoelektronenspektroskopie (XPS, UPS); Elektronensondentechniken: Analytische Elektronenmikroskopie (TEM, THEED, TEELS), Elektronenbeugung (LEED, RHEED), Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS, REELS), Rasterelektronenmikroskopie, Elektronenstrahlmikroanalyse (EPXMA/SEM), Augerelektronenspektroskopie (AES); Ionensondentechniken: Streumethoden (RBS, ISS), Elastic Recoil Detection (ERD), Sputtermethoden (Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS), Sekundärneutralteilchen-Massenspektrometrie (SNMS)), aktivierungsanalytische Methoden (CPAA); Feldsondentechniken: Feldionenmikroskopie, Atomsonde; Nahfeld-Rastersondentechniken: AFM, STM, SNOM. Physikalische Grundlagen, Gerätetechnik, Datenauswertung (Quantifizierung) und Analytische Charakteristika (Möglichkeiten und Limitierungen). Exemplarische Besprechung der Anwendungsmöglichkeiten mit Vor- und Nachteilen der verschiedenen Methoden.