Nach positiver Absolvierung der Lehrveranstaltung sind Studierende in der Lage die physikalischen Grundlagen von STM und AFM zusammenzufassen, den Aufbau von STM und AFM detailliert zu beschreiben und diese beiden Techniken gegebenenfalls anzuwenden sowie die Verwendung der Techniken bei eigenen Problemstellungen zu beurteilen.
Physikalische Grundlagen von STM und analytischer Informationsgehalt, STM-verwandte Techniken (z.B. Tunnelspektroskopie - STS), Dateninterpretation/Artefaktquellen, Physikalische Grundlagen von AFM und Informationsgehalt, AFM-verwandte Techniken zur Charakterisierung verschiedener Materialeigenschaften (Elektrische und Magnetische Kraftmikroskopie, Reibungskraftmikroskopie (tribologische Eigenschaften), Kraftspektroskopie/Nanointentation (nanomechanische Eigenschaften)), Raster-nahfeldoptische Mikroskopie (SNOM) in Verbindung mit Spektroskopie (RAMAN/IR), Raster-nahfeldakkustische Mikroskopie (SNAM) und Thermische Mikroskopie (SThM) ( sub-surface Information), Raster-elektrochemische Mikroskopie (SECM), weitere Methoden im Überblick, Gerätetechnik und praktische Aspekte, breitgestreute Anwendungen mit Schwerpunkt-setzung nach den Bedürfnissen der Studierenden (z.B. Mikro- und Nanostruktur-charakterisierung sowie dynamisches Verhalten verschiedener Werkstoffe (Metalle, Halbleiter, Keramiken, Polymere, Biomaterialien), in-situ Studium von Adsorptionsprozessen, Korrosion, Polymerisationsreaktionen oder biochemischen Prozessen an einzelnen Zellen, Nanopartikel und Aerosole, Beschichtungen, Chemische Modifikation von Oberflächen - Sensoren/Biosensoren, Einzelmoleküldetektion, Nanostrukturierung/Lithographie)
