164.171 Chemische Nanoskopie
Diese Lehrveranstaltung ist in allen zugeordneten Curricula Teil der STEOP.
Diese Lehrveranstaltung ist in mindestens einem zugeordneten Curriculum Teil der STEOP.

2020W, VO, 2.0h, 3.0EC
TUWEL
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LVA-Bewertung

Merkmale

  • Semesterwochenstunden: 2.0
  • ECTS: 3.0
  • Typ: VO Vorlesung
  • Format der Abhaltung: Distance Learning

Lernergebnisse

Nach positiver Absolvierung der Lehrveranstaltung sind Studierende in der Lage die physikalischen Grundlagen von STM und AFM zusammenzufassen, den Aufbau von STM und AFM detailliert zu beschreiben und diese beiden Techniken gegebenenfalls anzuwenden sowie die Verwendung der Techniken bei eigenen Problemstellungen zu beurteilen.

Inhalt der Lehrveranstaltung

Physikalische Grundlagen von STM und analytischer Informationsgehalt, STM-verwandte Techniken (z.B. Tunnelspektroskopie - STS), Dateninterpretation/Artefaktquellen, Physikalische Grundlagen von AFM und Informationsgehalt, AFM-verwandte Techniken zur Charakterisierung verschiedener Materialeigenschaften (Elektrische und Magnetische Kraftmikroskopie, Reibungskraftmikroskopie (tribologische Eigenschaften), Kraftspektroskopie/Nanointentation (nanomechanische Eigenschaften)), Raster-nahfeldoptische Mikroskopie (SNOM) in Verbindung mit Spektroskopie (RAMAN/IR), Raster-nahfeldakkustische Mikroskopie (SNAM) und Thermische Mikroskopie (SThM) ( sub-surface Information), Raster-elektrochemische Mikroskopie (SECM), weitere Methoden im Überblick, Gerätetechnik und praktische Aspekte, breitgestreute Anwendungen mit Schwerpunkt-setzung nach den Bedürfnissen der Studierenden (z.B. Mikro- und Nanostruktur-charakterisierung sowie dynamisches Verhalten verschiedener Werkstoffe (Metalle, Halbleiter, Keramiken, Polymere, Biomaterialien), in-situ Studium von Adsorptionsprozessen, Korrosion, Polymerisationsreaktionen oder biochemischen Prozessen an einzelnen Zellen, Nanopartikel und Aerosole, Beschichtungen, Chemische Modifikation von Oberflächen - Sensoren/Biosensoren, Einzelmoleküldetektion, Nanostrukturierung/Lithographie)

Methoden

Erklärung aller Prinzipien und Vorstellung vieler Anwendungsbeispiele unter Verwendung von PPT Abbildungen. Während des Vortrags auch Zwischenfragen und Diskussion um die Studierende aktiv in die Vorlesung einzubeziehen.

Prüfungsmodus

Mündlich

Vortragende

Institut

LVA Termine

TagZeitDatumOrtBeschreibung
10:00 - 12:0011.01.2021 - 21.01.2021Seminarraum BA 02A 164.171 (Friedbacher)
Fr.09:00 - 11:0015.01.2021 - 22.01.2021Seminarraum BA 02A 164.171 (Friedbacher)
Chemische Nanoskopie - Einzeltermine
TagDatumZeitOrtBeschreibung
No records found.

Leistungsnachweis

Mündliche Prüfung nach persönlicher Vereinbarung. Ungefähre Dauer: ca. 30 Minuten

LVA-Anmeldung

Von Bis Abmeldung bis
01.10.2020 00:00 29.01.2021 00:00

Curricula

Literatur

Ein Skriptum zur Lehrveranstaltung ist erhältlich.

Sprache

Deutsch