164.171 Chemische Nanoskopie
Diese Lehrveranstaltung ist in allen zugeordneten Curricula Teil der STEOP.
Diese Lehrveranstaltung ist in mindestens einem zugeordneten Curriculum Teil der STEOP.

2019W, VO, 2.0h, 3.0EC

Merkmale

  • Semesterwochenstunden: 2.0
  • ECTS: 3.0
  • Typ: VO Vorlesung

Lernergebnisse

Nach positiver Absolvierung der Lehrveranstaltung sind Studierende in der Lage:

1. Die physikalischen Grundlagen von STM und AFM zu verstehen, und damit deren Messergebnisse zu interpretieren.

2. Den Aufbau von STM und AFM so zu kennen, dass damit auch Möglichkeiten der praktischen Anwendung verstanden werden.

3. Die Einsatzfelder dieser Techniken in verschiedenen Bereichen so zu kennen, dass sie beurteilen können, ob und wie eigene Problemstellungen damit bearbeitet werden können.

Inhalt der Lehrveranstaltung

Physikalische Grundlagen von STM und analytischer Informationsgehalt, STM-verwandte Techniken (z.B. Tunnelspektroskopie - STS), Dateninterpretation/Artefaktquellen, Physikalische Grundlagen von AFM und Informationsgehalt, AFM-verwandte Techniken zur Charakterisierung verschiedener Materialeigenschaften (Elektrische und Magnetische Kraftmikroskopie, Reibungskraftmikroskopie (tribologische Eigenschaften), Kraftspektroskopie/Nanointentation (nanomechanische Eigenschaften)), Raster-nahfeldoptische Mikroskopie (SNOM) in Verbindung mit Spektroskopie (RAMAN/IR), Raster-nahfeldakkustische Mikroskopie (SNAM) und Thermische Mikroskopie (SThM) ( sub-surface Information), Raster-elektrochemische Mikroskopie (SECM), weitere Methoden im Überblick, Gerätetechnik und praktische Aspekte, breitgestreute Anwendungen mit Schwerpunkt-setzung nach den Bedürfnissen der Studierenden (z.B. Mikro- und Nanostruktur-charakterisierung sowie dynamisches Verhalten verschiedener Werkstoffe (Metalle, Halbleiter, Keramiken, Polymere, Biomaterialien), in-situ Studium von Adsorptionsprozessen, Korrosion, Polymerisationsreaktionen oder biochemischen Prozessen an einzelnen Zellen, Nanopartikel und Aerosole, Beschichtungen, Chemische Modifikation von Oberflächen - Sensoren/Biosensoren, Einzelmoleküldetektion, Nanostrukturierung/Lithographie)

Methoden

Erklärung aller Prinzipien und Vorstellung vieler Anwendungsbeispiele unter Verwendung von PPT Abbildungen. Während des Vortrags auch Zwischenfragen und Diskussion um die Studierende aktiv in die Vorlesung einzubeziehen.

Prüfungsmodus

Mündlich

Vortragende

Institut

LVA Termine

TagZeitDatumOrtBeschreibung
Di.11:00 - 14:0007.01.2020 - 14.01.2020Seminarraum BA 02A 164.171 Friedbacher
Mi.12:00 - 15:0008.01.2020 - 15.01.2020Seminarraum BA 02A 164.171 Friedbacher
Do.10:00 - 13:0009.01.2020 - 16.01.2020Seminarraum BA 02B 164.171 Friedbacher
Fr.09:00 - 12:0010.01.2020 - 17.01.2020Seminarraum BA 02C 164.171 Friedbacher
Mo.13:00 - 15:0013.01.2020 - 20.01.2020Seminarraum BA 02A 164.171 Friedbacher
Chemische Nanoskopie - Einzeltermine
TagDatumZeitOrtBeschreibung
Di.07.01.202011:00 - 14:00Seminarraum BA 02A 164.171 Friedbacher
Mi.08.01.202012:00 - 15:00Seminarraum BA 02A 164.171 Friedbacher
Do.09.01.202010:00 - 13:00Seminarraum BA 02B 164.171 Friedbacher
Fr.10.01.202009:00 - 12:00Seminarraum BA 02C 164.171 Friedbacher
Mo.13.01.202013:00 - 15:00Seminarraum BA 02A 164.171 Friedbacher
Di.14.01.202011:00 - 14:00Seminarraum BA 02A 164.171 Friedbacher
Mi.15.01.202012:00 - 15:00Seminarraum BA 02A 164.171 Friedbacher
Do.16.01.202010:00 - 13:00Seminarraum BA 02B 164.171 Friedbacher
Fr.17.01.202009:00 - 12:00Seminarraum BA 02C 164.171 Friedbacher
Mo.20.01.202013:00 - 15:00Seminarraum BA 02A 164.171 Friedbacher

Leistungsnachweis

Mündliche Prüfung nach persönlicher Vereinbarung

LVA-Anmeldung

Nicht erforderlich

Curricula

Literatur

Ein Skriptum zur Lehrveranstaltung ist erhältlich.

Sprache

Deutsch