Achtung ! Wegen eines Fehlers wird derzeit der Studienbeitragsstatus und somit auch der Fortmeldungsstatus falsch angezeigt. An der Behebung des Fehlers wird gearbeitet. Wir danken für Ihr Verständnis!

164.171 Chemische Nanoskopie
Diese Lehrveranstaltung ist in allen zugeordneten Curricula Teil der STEOP.
Diese Lehrveranstaltung ist in mindestens einem zugeordneten Curriculum Teil der STEOP.

2018W, VO, 2.0h, 3.0EC

Merkmale

  • Semesterwochenstunden: 2.0
  • ECTS: 3.0
  • Typ: VO Vorlesung

Ziele der Lehrveranstaltung

Vermittlung des Konzeptes der Nahfeld-Rastersondenmikroskopie. Physikalische Grundlagen, Gerätetechnik, analytische Charakteristika und Anwendung verschiedener Rastersondentechniken zur hochaufgelösten Charaktersierung verschiedenster Systeme

Inhalt der Lehrveranstaltung

Physikalische Grundlagen von STM und analytischer Informationsgehalt, STM-verwandte Techniken (z.B. Tunnelspektroskopie - STS), Dateninterpretation/Artefaktquellen, Physikalische Grundlagen von AFM und Informationsgehalt, AFM-verwandte Techniken zur Charakterisierung verschiedener Materialeigenschaften (Elektrische und Magnetische Kraftmikroskopie, Reibungskraftmikroskopie (tribologische Eigenschaften), Kraftspektroskopie/Nanointentation (nanomechanische Eigenschaften)), Raster-nahfeldoptische Mikroskopie (SNOM) in Verbindung mit Spektroskopie (RAMAN/IR), Raster-nahfeldakkustische Mikroskopie (SNAM) und Thermische Mikroskopie (SThM) ( sub-surface Information), Raster-elektrochemische Mikroskopie (SECM), weitere Methoden im Überblick, Gerätetechnik und praktische Aspekte, breitgestreute Anwendungen mit Schwerpunkt-setzung nach den Bedürfnissen der Studierenden (z.B. Mikro- und Nanostruktur-charakterisierung sowie dynamisches Verhalten verschiedener Werkstoffe (Metalle, Halbleiter, Keramiken, Polymere, Biomaterialien), in-situ Studium von Adsorptionsprozessen, Korrosion, Polymerisationsreaktionen oder biochemischen Prozessen an einzelnen Zellen, Nanopartikel und Aerosole, Beschichtungen, Chemische Modifikation von Oberflächen - Sensoren/Biosensoren, Einzelmoleküldetektion, Nanostrukturierung/Lithographie)

Vortragende

Institut

LVA Termine

TagZeitDatumOrtBeschreibung
Mo.13:00 - 16:0007.01.2019 - 14.01.2019Seminarraum BA 02B 164.171 Friedbacher
Di.09:00 - 12:0008.01.2019 - 15.01.2019Seminarraum BA 02A 164.171 Friedbacher
Mi.12:00 - 15:0009.01.2019 - 16.01.2019Seminarraum BA 02A 164.171 Friedbacher
Do.09:00 - 12:0010.01.2019 - 17.01.2019Seminarraum BA 02A 164.171
Fr.09:00 - 12:0011.01.2019 - 18.01.2019Seminarraum BA 02C 164.171 Friedbacher
Chemische Nanoskopie - Einzeltermine
TagDatumZeitOrtBeschreibung
Mo.07.01.201913:00 - 16:00Seminarraum BA 02B 164.171 Friedbacher
Di.08.01.201909:00 - 12:00Seminarraum BA 02A 164.171 Friedbacher
Mi.09.01.201912:00 - 15:00Seminarraum BA 02A 164.171 Friedbacher
Do.10.01.201909:00 - 12:00Seminarraum BA 02A 164.171
Fr.11.01.201909:00 - 12:00Seminarraum BA 02C 164.171 Friedbacher
Mo.14.01.201913:00 - 16:00Seminarraum BA 02B 164.171 Friedbacher
Di.15.01.201909:00 - 12:00Seminarraum BA 02A 164.171 Friedbacher
Mi.16.01.201912:00 - 15:00Seminarraum BA 02A 164.171 Friedbacher
Do.17.01.201909:00 - 12:00Seminarraum BA 02A 164.171
Fr.18.01.201909:00 - 12:00Seminarraum BA 02C 164.171 Friedbacher

Leistungsnachweis

Mündliche Prüfung

LVA-Anmeldung

Nicht erforderlich

Curricula

Literatur

Ein Skriptum zur Lehrveranstaltung ist erhältlich.

Sprache

Deutsch