164.171 Chemische Nanoskopie
Diese Lehrveranstaltung ist in allen zugeordneten Curricula Teil der STEOP.
Diese Lehrveranstaltung ist in mindestens einem zugeordneten Curriculum Teil der STEOP.

2018W, VO, 2.0h, 3.0EC

Merkmale

  • Semesterwochenstunden: 2.0
  • ECTS: 3.0
  • Typ: VO Vorlesung

Ziele der Lehrveranstaltung

Vermittlung des Konzeptes der Nahfeld-Rastersondenmikroskopie. Physikalische Grundlagen, Gerätetechnik, analytische Charakteristika und Anwendung verschiedener Rastersondentechniken zur hochaufgelösten Charaktersierung verschiedenster Systeme

Inhalt der Lehrveranstaltung

Physikalische Grundlagen von STM und analytischer Informationsgehalt, STM-verwandte Techniken (z.B. Tunnelspektroskopie - STS), Dateninterpretation/Artefaktquellen, Physikalische Grundlagen von AFM und Informationsgehalt, AFM-verwandte Techniken zur Charakterisierung verschiedener Materialeigenschaften (Elektrische und Magnetische Kraftmikroskopie, Reibungskraftmikroskopie (tribologische Eigenschaften), Kraftspektroskopie/Nanointentation (nanomechanische Eigenschaften)), Raster-nahfeldoptische Mikroskopie (SNOM) in Verbindung mit Spektroskopie (RAMAN/IR), Raster-nahfeldakkustische Mikroskopie (SNAM) und Thermische Mikroskopie (SThM) ( sub-surface Information), Raster-elektrochemische Mikroskopie (SECM), weitere Methoden im Überblick, Gerätetechnik und praktische Aspekte, breitgestreute Anwendungen mit Schwerpunkt-setzung nach den Bedürfnissen der Studierenden (z.B. Mikro- und Nanostruktur-charakterisierung sowie dynamisches Verhalten verschiedener Werkstoffe (Metalle, Halbleiter, Keramiken, Polymere, Biomaterialien), in-situ Studium von Adsorptionsprozessen, Korrosion, Polymerisationsreaktionen oder biochemischen Prozessen an einzelnen Zellen, Nanopartikel und Aerosole, Beschichtungen, Chemische Modifikation von Oberflächen - Sensoren/Biosensoren, Einzelmoleküldetektion, Nanostrukturierung/Lithographie)

Vortragende

Institut

LVA Termine

TagZeitDatumOrtBeschreibung
Mo.13:00 - 16:0007.01.2019 - 14.01.2019Seminarraum BA 02B 164.171 Friedbacher
Di.09:00 - 12:0008.01.2019 - 15.01.2019Seminarraum BA 02A 164.171 Friedbacher
Mi.12:00 - 15:0009.01.2019 - 16.01.2019Seminarraum BA 02A 164.171 Friedbacher
Do.09:00 - 12:0010.01.2019 - 17.01.2019Seminarraum BA 02A 164.171
Fr.09:00 - 12:0011.01.2019 - 18.01.2019Seminarraum BA 02C 164.171 Friedbacher
Chemische Nanoskopie - Einzeltermine
TagDatumZeitOrtBeschreibung
Mo.07.01.201913:00 - 16:00Seminarraum BA 02B 164.171 Friedbacher
Di.08.01.201909:00 - 12:00Seminarraum BA 02A 164.171 Friedbacher
Mi.09.01.201912:00 - 15:00Seminarraum BA 02A 164.171 Friedbacher
Do.10.01.201909:00 - 12:00Seminarraum BA 02A 164.171
Fr.11.01.201909:00 - 12:00Seminarraum BA 02C 164.171 Friedbacher
Mo.14.01.201913:00 - 16:00Seminarraum BA 02B 164.171 Friedbacher
Di.15.01.201909:00 - 12:00Seminarraum BA 02A 164.171 Friedbacher
Mi.16.01.201912:00 - 15:00Seminarraum BA 02A 164.171 Friedbacher
Do.17.01.201909:00 - 12:00Seminarraum BA 02A 164.171
Fr.18.01.201909:00 - 12:00Seminarraum BA 02C 164.171 Friedbacher

Leistungsnachweis

Mündliche Prüfung

LVA-Anmeldung

Nicht erforderlich

Curricula

Literatur

Ein Skriptum zur Lehrveranstaltung ist erhältlich.

Sprache

Deutsch