141.211 X-Ray Analytical Methods
Diese Lehrveranstaltung ist in allen zugeordneten Curricula Teil der STEOP.
Diese Lehrveranstaltung ist in mindestens einem zugeordneten Curriculum Teil der STEOP.

2024S, VO, 2.0h, 3.0EC, wird geblockt abgehalten

Merkmale

  • Semesterwochenstunden: 2.0
  • ECTS: 3.0
  • Typ: VO Vorlesung
  • Format der Abhaltung: Hybrid

Lernergebnisse

Nach positiver Absolvierung der Lehrveranstaltung sind Studierende in der Lage...

  • Röntgenröhreh, Synchrotronstrahlungsquelle zu beschreiben und ihre Funktion zu erklären
  • Wechselwirkungen von Photonen mit Materia zu erklären und ihre Einflußparameter
  • Energiedispersive XRF zur erklären,
  • zu erklären,  wie man die Nachweisgrenzen in der Spurenelementanalytik verbessern kann
  • geeignete Quantifizierungsmethoden auszuwählen und anzuwenden
  • die Details der speziellen Methoden, wie TXRF, 2D und 3 D imaging, micro-XRF and SR-XRF zu erklären
  • die gelernten Methoden auf Fragestellungen in Medizin, Industrie, Biologie und Umwelt anzuwenden
  • zu entscheiden, welche Analytische Methode am besten für eine spezifische Fragestellung geeignet ist.

Inhalt der Lehrveranstaltung

  • Einführung in die Röntgenphysik,
  • Einführung in die Röntgenfluoreszenzanalyse ( XRF)
  • Röntgenquellen,
  • Röntgendetektoren,
  • Röntgenoptiken.
  • Einführung in verschiedene Methoden der Röntgenanalytik,
    • wie Röntgenfluoreszenzanalyse,
    • Röntgenbildgebende Verfahren
    • Absorptionsspektroskopie
    • Mikroanalyse,
    • TotalreflexionsXRF,
    • Synchrotronstrahlungsinduzierte XRF

Methoden

Es wird auf die physikalischen Grundlagen der verschiedenen Methoden eingegangen und  die Einsatzmöglichkeiten werden anhand von Fallbeispielen diskutiert.

Prüfungsmodus

Mündlich

Vortragende Personen

Institut

Leistungsnachweis

mündliche Prüfung ( auch online via zoom)

LVA-Anmeldung

Von Bis Abmeldung bis
01.03.2024 00:00 29.04.2024 00:00

Curricula

StudienkennzahlVerbindlichkeitSemesterAnm.Bed.Info
066 461 Technische Physik Gebundenes Wahlfach
066 461 Technische Physik Gebundenes Wahlfach

Literatur

Handbook of X-ray Spektrometry, Marcel Dekker 2002, Van Grieken, Markowicz X-ray Spectrometry: recent technological advances, Wiley 2004, Tsuji, Injuk, Van Grieken,

Vorausgehende Lehrveranstaltungen

Sprache

Englisch