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141.115 Practical Course in X-Ray Analytical Methods
Diese Lehrveranstaltung ist in allen zugeordneten Curricula Teil der STEOP.
Diese Lehrveranstaltung ist in mindestens einem zugeordneten Curriculum Teil der STEOP.

2025S, PR, 2.0h, 3.0EC, wird geblockt abgehalten

Merkmale

  • Semesterwochenstunden: 2.0
  • ECTS: 3.0
  • Typ: PR Projekt
  • Format der Abhaltung: Präsenz

Lernergebnisse

Nach positiver Absolvierung der Lehrveranstaltung sind Studierende in der Lage...

  • eine Probe mittels XRF/XRD qualitativ zu analysieren
  • Anwendbarkeit der XRF, micro-XRF, TXRF und Sekundary target XRF zu beurteilen
  • Spektren zu deconvulieren
  • einfache quantitative Analysen mittels XRF/einfache quantitative Phasenanalytik mittels XRD durchzuführen

Inhalt der Lehrveranstaltung

  • Energy dispersive X-ray Fluorescence Analysis (EDXRF)
  • Total Reflection X-ray Fluorescence Analysis (TXRF)
  • Micro-XRF
  • Secondary target XRF
  •  Quantification, Calibration, Trace element analysis
  • Qualitative/quantitative kristallographische Phasenanalytik an polykristallinen Materialien (Feststoff, Dünnfilme) mittels Röntgen-Diffraktionsmethoden

Methoden

After an introduction to  the topic the analysis is demonstrated. Further measurements, data evaluation and interpretations is performed by the students. Concluding a final report should demonstrate that the individual methods are understood and results are presented

Prüfungsmodus

Schriftlich und Mündlich

Vortragende Personen

Institut

Leistungsnachweis

schriftliches Protokol und Abschlußgespräch

LVA-Anmeldung

Von Bis Abmeldung bis
07.03.2025 00:00 12.05.2025 00:00

Curricula

StudienkennzahlVerbindlichkeitSemesterAnm.Bed.Info
800 FW Freie Wahlfächer - Technische Chemie Freifach
810 Technische Physik Gebundenes Wahlfach
810 Technische Physik Gebundenes Wahlfach

Literatur

Ein Skriptum zur Lehrveranstaltung ist erhältlich.

Vorausgehende Lehrveranstaltungen

Weitere Informationen

  • Anwesenheitspflicht!

Sprache

Englisch