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138.049 Elektronenmikroskopie
Diese Lehrveranstaltung ist in allen zugeordneten Curricula Teil der STEOP.
Diese Lehrveranstaltung ist in mindestens einem zugeordneten Curriculum Teil der STEOP.

2020S, PR, 4.0h, 5.0EC, wird geblockt abgehalten

Merkmale

  • Semesterwochenstunden: 4.0
  • ECTS: 5.0
  • Typ: PR Projekt

Lernergebnisse

Nach positiver Absolvierung der Lehrveranstaltung sind Studierende in der Lage die in der Lehrveranstaltung angebotenen Lehrinhalte zu erfassen und selbstständig zu interpretieren sowie sämtliche Lehrinhalte auch aktiv weiterzugeben.

Inhalt der Lehrveranstaltung

Arbeitsweise des Transmissionselektronenmikroskopes (TEM)
Praktische Arbeit am Mikroskop
Setup und Alignment des analytischen TEMs
- Alignment der strahlformenden Linsen
- Alignment der bildformenden Linsen
- Korrektur der Linsenfehler Anwendung der grundlegenden TEM-Techniken
- Hellfeldabbildung (MAG, SAMAG)
- Dunkelfeldabbildung
- Elektronenbeugung
- Verwendung des Kamerasystem (CCD/Plattenkamera)

Analytik am TEM
- Energieverlustspektrometrie (EELS)
- Energiedispersive Röntgenmikroanalyse (EDS)
- Image Filter (GIF)
- Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM)
- Bright Field, Dark Field und High Angle Annular Dark Field (DF, BF, HAADF)

Methoden

Interaktiver Kurs

Prüfungsmodus

Schriftlich und Mündlich

Weitere Informationen

Geplante Termine SS 2019:

Es sind wieder drei Gruppen geplant, mit jeweils maximal 5 TeilnehmerInnen.
Bitte rechtzeitig anmelden! (unbedingt Gruppenanmeldung durchführen!)
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Verpflichtender einführender Theorieblock (für alle Gruppen gemeinsam)
Fr 1. März 2019
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Die Arbeiten am TEM finden im TEM Labor im Freihaus (8.Stock, gelber Turm) statt.
Dauer jeweils 09:00 bis 13:00 (außer anders angegeben)
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Gruppe 1 (english block!
german speaking colleagues please
use block 2 and 3)
Mo 04.03.; Di 05.03.; Mi 06.03.; Do 07.03.
Mo 11.03.; Di 12.03.; Mi 13.03.; Do 14.03.
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Gruppe 2:
Mo 18.03.; Di 19.03.; Mi 20.03.; Do 21.03.
Mo 25.03.; Di 26.03.; Mi 27.03.; Do 28.03.
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Gruppe 3:
Mo 01.04.; Di 02.04.; Mi 03.04.; Do 04.04.
Mi 08.04.; Do 09.04.; Fr 10.04.; Mo 11.04.
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Vortragende

Institut

LVA Termine

TagZeitDatumOrtBeschreibung
Di.12:00 - 13:0003.03.2020FH Hörsaal 6 Vorbesprechung: SCHATTSCHNEIDER
Fr.12:00 - 14:0006.03.2020 SEM 138A, FH 7. Stock, gelber TurmTheorieblock für alle Gruppen
LVA wird geblockt abgehalten

Leistungsnachweis

Zeugnis

LVA-Anmeldung

Von Bis Abmeldung bis
01.10.2019 00:00 28.02.2020 09:00 28.02.2020 09:00

Anmeldemodalitäten:

Bitte die Anmeldung ausschließlich mit Hilfe des Links "zur Gruppen-Anmeldung" durchführen. Die erste Gruppe ist bevorzugt für nicht-deutsch sprechende KollegInnen vorgesehen. Bitte ignorieren Sie den Link "LVA-Anmeldung".

 

Gruppen-Anmeldung

GruppeAnmeldung VonBis
Gruppe1 (english)01.10.2019 00:0028.02.2020 09:00
Gruppe201.10.2019 00:0028.02.2020 09:00
Gruppe301.10.2019 00:0028.02.2020 09:00

Curricula

StudienkennzahlSemesterAnm.Bed.Info
066 434 Materialwissenschaften

Literatur

Ein Skriptum zur Lehrveranstaltung ist erhältlich.
Transmission electron microscopy - Williams, David B. and Carter, C.Barry (empfehlenswert) (1996,2009)
Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation - Reimer, Ludwig und Kohl, Helmut (empfehlenswert)(2008) 

Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie - Alexander, Helmut (1997)
Physical principles of electron microscopy - Egerton, Ray F. (2005)
Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Präparationsmethoden - Reimer, Ludwig (1984)
Fundamentals of inelastic electron scattering - Schattschneider, Peter (1986)

Begleitende Lehrveranstaltungen

Vertiefende Lehrveranstaltungen

Weitere Informationen

  • Anwesenheitspflicht!

Sprache

Deutsch