Einweisung in die Bedienung und Arbeitsweise des analytischen Transmissionselektronenmikroskopes. Selbständiges Arbeiten am Mikroskop als Voraussetzung für die Durchführung von Projektarbeiten, Projektarbeiten, Diplomarbeiten und Dissertationen auf dem Gebiet der Elektronenmikroskopie.

Arbeitsweise des Transmissionselektronenmikroskopes (TEM)
Praktische Arbeit am Mikroskop
Setup und Alignment des analytischen TEMs
- Alignment der strahlformenden Linsen
- Alignment der bildformenden Linsen
- Korrektur der Linsenfehler Anwendung der grundlegenden TEM-Techniken
- Hellfeldabbildung (MAG, SAMAG)
- Dunkelfeldabbildung
- Elektronenbeugung
- Verwendung des Kamerasystem (CCD/Plattenkamera)

Analytik am TEM
- Energieverlustspektrometrie (EELS)
- Energiedispersive Röntgenmikroanalyse (EDS)
- Image Filter (GIF)
- Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM)
- Bright Field, Dark Field und High Angle Annular Dark Field (DF, BF, HAADF)

Achtung: Anmeldepflicht, begrenzte Teilnehmerzahl!
Bitte melden Sie sich rechtzeitig ab, falls Sie Ihren Teilnahmewunsch stornieren müssen, damit KollegInnen auf der Warteliste nachrücken können.

Geplante Termine WS 2018/19:

Es sind wieder drei Gruppen geplant, mit jeweils maximal 5 TeilnehmerInnen.
Bitte rechtzeitig anmelden!

Die Arbeiten am TEM finden im TEM Labor im Freihaus (8.Stock, gelber Turm) statt.
Dauer: üblicherweise 09:00 bis 13:00

-----------------------------------------------------
Theorieblock für alle Gruppen (Lecture for all groups together)
Fr 5.10.2018 (SEM DB rot 07, 12-15 Uhr)
-----------------------------------------------------
Gruppe 1 (reserved for english speaking students)
Mo, 08. Okt 2018
Di, 09. Okt 2018
Mi, 10. Okt 2018
Do, 11. Okt 2018
Mo, 15. Okt 2018
Di, 16. Okt 2018
Mi, 17. Okt 2018
Do, 18. Okt 2018
-----------------------------------------------------
Gruppe 2:
Mo, 05. Nov 2018
Di, 06. Nov 2018
Mi, 07. Nov 2018
Do, 08. Nov 2018
Mo, 12. Nov 2018
Di, 13. Nov 2018
Mi, 14. Nov 2018
Fr, 16. Nov 2018

-----------------------------------------------------
Gruppe 3:
Mo, 19. Nov 2018
Di, 20. Nov 2018
Mi, 21. Nov 2018
Do, 22. Nov 2018
Mo, 26. Nov 2018
Di, 27. Nov 2018
Mi, 28. Nov 2018
Do, 29. Nov 2018
-----------------------------------------------------

Bitte die Anmeldung ausschließlich mit Hilfe des Links "zur Gruppen-Anmeldung" durchführen. Die erste Gruppe ist bevorzugt für nicht-deutsch sprechende KollegInnen vorgesehen. Bitte ignorieren Sie den Link "LVA-Anmeldung".

Ein Skriptum zur Lehrveranstaltung ist erhältlich.

Transmission electron microscopy - Williams, David B. and Carter, C.Barry (empfehlenswert) (1996,2009)

Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation - Reimer, Ludwig und Kohl, Helmut (2008) (empfehlenswert)

Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie - Alexander, Helmut (1997)
Physical principles of electron microscopy - Egerton, Ray F. (2005)
Einführung in die Elektronenmikroskopie - Heimendahl, Manfred von (1984)
Electron microscopy of materials - Heimendahl, Manfred von (1980)
Electron microscopy of thin crystals - Hirsch, P. B. (1977)
High-resolution electron microscopy - Spence, John C. H. (2008)
Transmission electron microscopy of materials - Thomas, Gareth (1990) Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Präparationsmethoden - Reimer, Ludwig (1984)
Fundamentals of inelastic electron scattering - Schattschneider, Peter (1986)