Präparation und Charakterisierung von Festkörperoberflächen, Instrumente der Oberflächenspektroskopie und Analytik. Methoden der chemischen Analyse (XPS, AES, SIMS, ISS, TDS), Bestimmung der geometrischen Struktur (STM/AFM, FIM, LEED) und der Elektronenstruktur (UPS,IPES, NEXAFS).