Nach positiver Absolvierung der Lehrveranstaltung sind Studierende in der Lage, die grundlegenden Probleme und Forschungsansätze der modernen Oberflächenphysik zu verstehen sowie oberflächenanalytische Charakterisierungsmethoden hinsichtlich ihrer Forschungsrelevanz einschätzen zu können.

Physik der grundlegenden Methoden für die Analyse von Festkörperoberflächen in Hinblick auf chemische Zusammensetzung (Augerelektronen-Spektroskopie, Photoelektronenspektroskopie, Sekundärionenmassenspektroskopie) und der kristallographischen Struktur (Niederenergetische Elektronenbeugung, Rastertunnelmikroskopie). Spezielle Ausführungen zur Analyse von Nanostrukturen. Erweiterung und Anwendung der bekannten Modelle aus der Festkörperphysik auf Festkörperoberflächen. Modelle der Wechselwirkung von Atomen und Molekülen mit Oberflächen (Adsorption, Desorption, Kondensation). Modelle zur Segregation an Fetskörperoberflächen und Beschreibung der kristallographischen Rekonstruktion bzw. Relaxation an Festkörperoberflächen. Physik von Nanostrukturen. Skriptum wird zu jeder Vorlesung beigesteuert.

Während der Vorlesung wird der Stoff theoretisch erklärt, an Fallbeispielen diskutiert und durch interaktive Übungen und Diskussionen gefestigt.  Weiters besteht die Möglichkeit zur Besichtigung eines Oberflächenphyik Labors 

Der Kurs besteht aus zwei Modulen. 

I. Modul:  Oberflächenanalytische Methoden (gemeinsam mit der Vorlesung Physikalische Analytik, 134.048. 

II. Modul:  Grundlegende Kapitel aus der Oberflächenphysik (gemeinsam mit der Vorlesung Oberflächenphysik 134.165)

Inhalt der folgenden Vorlesungen:

I.1. Einführung und Vakuumphysik und -technologie (Diebold)

I.2. Analytik mit Ionenstrahlen (Diebold)

I.3. Rastersondenmikroskopie I (Diebold)

I.4. Rastersondemikroskopie II (Diebold) 

I.5. Teilchen-Festkörperwechselwirkung (Werner)

I.6. Elektronenspektroskopie I (Werner)

I.7. Elektronenspektroskopie II (Wernder)

II.1. Einführung in die Oberflächenphysik, technische Vorraussetzungen

II.2. Oberflächen von Metallen, Rekonstruktionen

II.3. LEED, Symmetriegruppen

II.4. Halbleiteroberflächen

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Der Leistungsnachweis wird im Rahmen einer mündlichen Aussprache erbracht, in der das tiefere Verständnis von oberflächenphyikalischen Fragestellungen diskutiert wird. 

Anmeldung kann auch über email erfolgen:

ulrike.diebold@tuwien.ac.at

Für den ersten Teil (Oberflächenanalytik) - siehe 134.048, Physikalische Analytik

Für den zweitenTeil 'Oberflächenphysik' bitte email an diebold@iap.tuwien.ac.at