133.293 Grundlagen der Elektronenmikroskopie
Diese Lehrveranstaltung ist in allen zugeordneten Curricula Teil der STEOP.
Diese Lehrveranstaltung ist in mindestens einem zugeordneten Curriculum Teil der STEOP.

2019S, VO, 2.0h, 3.0EC

Merkmale

  • Semesterwochenstunden: 2.0
  • ECTS: 3.0
  • Typ: VO Vorlesung

Ziele der Lehrveranstaltung

Nach erfolgreichem Absolvieren der LV sind die Studenten in der Lage ...

  • ... die unterschiedliche Typen von Elektronenmikroskopen (SEM, TEM, STEM), deren Funktionsprinzipien und Anwendungsgebiete zu erklären.
  • ... die Funktionsweise von Elektronenlinsen und die Auswirkungen der Linsenfehler zu beschreiben.
  • ... einen Überblick über die vielfältigen Analysemöglichkeiten der Elektronenmikroskopie in den Lebenswissenschaften und Materialwissenschaften zu geben.

Inhalt der Lehrveranstaltung

Der Inhalt der Vorlesung ist entsprechend dem Skriptum strukturiert:

  1. Einleitung (Geschichte der Elektronenmikroskopie, Erklärung der diversen Mikroskoptypen)
  2. Elektronenoptik (Eigenschaften des Bildes, geometrische Optik der Sammellinse, Linsenfehler, Auflösungslimits, Aberrationskorrektur)
  3. Rasterelektronenmikroskopie (Aufbau, Eindringung der Elektronen, abbildende Verfahren, environmental SEM, EBIC, 3D-SEM)
  4. Transmissionselektronenmikroskopie (Aufbau, Elektronenquellen, Linsensysteme, Detektoren, Probenpräparation)
  5. Abbildende Methoden im TEM (Elektronenbeugung, Hell- und Dunkelfeldmikroskopie, kinematische Beugungstheorie, dynamische Beugungstheorie, Phasenkontrast, HRTEM,  Lorentzmikroskopie, Holographie, Tomographie)
  6. Simulation von Hochauflösungsbildern (Modellierung der Probe, Austrittswelle, Rekonstruktionsverfahren)
  7. Rastertransmissionselektronenmikroskopie (Funktionsweise, Detektoren, Abbildungsverfahren in STEM, Differentieller Phasenkontrast)
  8. In-situ Elektronenmikroskopie (im SEM, im TEM)
  9. Niederspannungselektronenmikroskopie (Strahlschäden, mittlere freie Weglänge, SEM, TEM)
  10. Analytische Elektronenmikroskopie (Anwendungsbeispiele, inelastische Wechselwirkungen, EELS, EDX, CL)

Weitere Informationen

Vorlesung in deutscher Sprache (bei Bedarf auch in englischer Sprache).

Vortragende

Institut

LVA Termine

TagZeitDatumOrtBeschreibung
Di.12:00 - 13:0005.03.2019FH Hörsaal 6 Institutsvorbesprechung
Mo.14:00 - 15:3011.03.2019 - 24.06.2019Sem.R. DB gelb 07 Vorlesung
Grundlagen der Elektronenmikroskopie - Einzeltermine
TagDatumZeitOrtBeschreibung
Di.05.03.201912:00 - 13:00FH Hörsaal 6 Institutsvorbesprechung
Mo.11.03.201914:00 - 15:30Sem.R. DB gelb 07 Vorlesungsbeginn
Mo.18.03.201914:00 - 15:30Sem.R. DB gelb 07 Vorlesung
Mo.25.03.201914:00 - 15:30Sem.R. DB gelb 07 Vorlesung
Mo.01.04.201914:00 - 15:30Sem.R. DB gelb 07 Vorlesung
Mo.08.04.201914:00 - 15:30Sem.R. DB gelb 07 Vorlesung
Mo.29.04.201914:00 - 15:30Sem.R. DB gelb 07 Vorlesung
Mo.06.05.201914:00 - 15:30Sem.R. DB gelb 07 Vorlesung
Mo.13.05.201914:00 - 15:30Sem.R. DB gelb 07 Vorlesung
Mo.20.05.201914:00 - 15:30Sem.R. DB gelb 07 Vorlesung
Mo.27.05.201914:00 - 15:30Sem.R. DB gelb 07 Vorlesung
Mo.03.06.201914:00 - 15:30Sem.R. DB gelb 07 Vorlesung
Mo.17.06.201914:00 - 15:30Sem.R. DB gelb 07 Vorlesung
Mo.24.06.201914:00 - 15:30Sem.R. DB gelb 07 Vorlesung

Leistungsnachweis

mündlich

LVA-Anmeldung

Nicht erforderlich

Curricula

Literatur

Ein Skriptum zur Lehrveranstaltung ist beim Vortragenden für einen Druckkostenbeitrag von 15 EUR erhältlich. Dieses Skriptum dient auch als Lernunterlage für die LVA 138.103 Techniken der analytischen Elektronenmikroskopie.

Vorkenntnisse

Festkörperphysik

Begleitende Lehrveranstaltungen

Vertiefende Lehrveranstaltungen

Weitere Informationen

Sprache

bei Bedarf in Englisch