Grundlegende Darstellung der Methode der hochauflösenden Elektronenmikroskopie (HREM): Kenntnisse der Möglichkeiten und Grenzen der Methode: Diskussion von ausgewählten Fallbeispielen: Interpretation von Kristallgitterabbildungen.
Experimentelle Voraussetzungen (Probenpräparation, Gerätetechnik): Wellenoptik der Bildfehler/ Kontrastübertragungsfunktion. Dynamische Beugungstheorie - Wellenausbreitung - Elektronenoptik: Computersimulation des Bildkontrastes: Analyse von Kristallgitterdefekten von Halbleitern, Keramik (Versetzungen, Grenzflächen, Korngrenzen, Phasengrenzen): Diskussion der Vorteile und Nachteile von HREM.
eventuell in Blockform, nach Vereinbarung
mündlich
keine speziellen, sinnvoll sind Grundlagen der Elektronenmikroskopie und der Festkörperphysik